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Fischer產(chǎn)家直銷(xiāo)菲希爾FMP40測(cè)厚儀，菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀能夠自動(dòng)識(shí)別底材材料并且集成了兩種測(cè)量方法，使這個(gè)系列的儀器可以測(cè)量鋼材和鐵材亦或是非鐵磁基材上的大部分涂鍍層的厚度。菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀由于集合了兩種測(cè)量方法，這個(gè)系列的儀器還能夠在一次測(cè)量過(guò)程中同時(shí)測(cè)得兩層涂鍍層的厚度（油漆層/鋅層），并且分別顯示出來(lái)。

詳細(xì)介紹

Fischer產(chǎn)家直銷(xiāo)菲希爾FMP40測(cè)厚儀

菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀能夠自動(dòng)識(shí)別底材材料并且集成了兩種測(cè)量方法，使這個(gè)系列的儀器可以測(cè)量鋼材和鐵材亦或是非鐵磁基材上的大部分涂鍍層的厚度。菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀由于集合了兩種測(cè)量方法，這個(gè)系列的儀器還能夠在一次測(cè)量過(guò)程中同時(shí)測(cè)得兩層涂鍍層的厚度（油漆層/鋅層），并且分別顯示出來(lái)。

德國(guó)Fischer產(chǎn)家直銷(xiāo)菲希爾DualScope FMP40測(cè)厚儀采用了磁感應(yīng)和電渦流兩種方法。
德國(guó)Fischer產(chǎn)家直銷(xiāo)菲希爾DualScope FMP40測(cè)厚儀采用的磁感應(yīng)方法：
德國(guó)Fischer產(chǎn)家直銷(xiāo)菲希爾DualScope FMP40測(cè)厚儀通過(guò)探頭的激勵(lì)電流產(chǎn)生一個(gè)低頻磁場(chǎng)區(qū)域，該磁場(chǎng)的強(qiáng)度取決于涂鍍層厚度并經(jīng)磁性基材放大。菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀探頭測(cè)量線(xiàn)圈捕獲這個(gè)放大信號(hào)，然后通過(guò)儲(chǔ)存在儀器內(nèi)的探頭特征曲線(xiàn)將信號(hào)轉(zhuǎn)換為涂鍍層厚度。
應(yīng)用：鋅、鉻、銅等電鍍層或涂覆或噴濺上去的非磁性鍍層或油漆、塑料等涂層在鋼和鐵上。
德國(guó)Fischer產(chǎn)家直銷(xiāo)菲希爾DualScope FMP40測(cè)厚儀采用的電渦流方法：
德國(guó)Fischer產(chǎn)家直銷(xiāo)菲希爾DualScope FMP40測(cè)厚儀通過(guò)探頭的激勵(lì)電流產(chǎn)生一個(gè)高頻初級(jí)磁場(chǎng)區(qū)域，該磁場(chǎng)在基材內(nèi)產(chǎn)生感生電渦流，次級(jí)磁場(chǎng)區(qū)域削弱初級(jí)磁場(chǎng)區(qū)域，削弱影響相當(dāng)于探頭和基材之間的距離即涂鍍層的厚度，然后通過(guò)儲(chǔ)存在儀器內(nèi)的探頭特征曲線(xiàn)將削弱影響轉(zhuǎn)換為涂鍍層厚度值顯示出來(lái)。

菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀This universal instrument can be used to measure numerous coatings both on iron/steel and on non-ferromagnetic metals and non-conducting carrier materials.

DUALSCOPE FMP40涂鍍層測(cè)厚儀采用了磁感應(yīng)和電渦流兩種方法。
磁感應(yīng)方法：
通過(guò)探頭的激勵(lì)電流產(chǎn)生一個(gè)低頻磁場(chǎng)區(qū)域，該磁場(chǎng)的強(qiáng)度取決于涂鍍層厚度并經(jīng)磁性基材放大。測(cè)量線(xiàn)圈捕獲這個(gè)放大信號(hào)，然后通過(guò)儲(chǔ)存在儀器內(nèi)的探頭特征曲線(xiàn)將信號(hào)轉(zhuǎn)換為涂鍍層厚度。
應(yīng)用：鋅、鉻、銅等電鍍層或涂覆或噴濺上去的非磁性鍍層或油漆、塑料等涂層在鋼和鐵上。
電渦流方法：
通過(guò)探頭的激勵(lì)電流產(chǎn)生一個(gè)高頻初級(jí)磁場(chǎng)區(qū)域，該磁場(chǎng)在基材內(nèi)產(chǎn)生感生電渦流，次級(jí)磁場(chǎng)區(qū)域削弱初級(jí)磁場(chǎng)區(qū)域，削弱影響相當(dāng)于探頭和基材之間的距離即涂鍍層的厚度，然后通過(guò)儲(chǔ)存在儀器內(nèi)的探頭特征曲線(xiàn)將削弱影響轉(zhuǎn)換為涂鍍層厚度值顯示出來(lái)。

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菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀This universal instrument can be used to measure numerous coatings both on iron/steel and on non-ferromagnetic metals and non-conducting carrier materials.

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