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AMETEK FAST SDD 检测器
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  • AMETEK  FAST SDD 检测器

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货物所在地: 广东深圳市
更新时间: 2025-07-25 11:37:33
期: 2025年7月25日--2026年7月25日
已获点击: 53
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产品简介

AMETEK FAST SDD 检测器 Amptek推出全新SDD探测器,针对扫描电镜能谱仪客户应用(EDS SEM)利用全新技术“C”系列X射线窗口(Si3N4),能够对低能量区域元素快速响应,新Amptek SDD™可以很好的测试元素碳(C),高效率快速SDD™是EDS光谱仪的方案。

详细介绍

AMETEK  FAST SDD 检测器这款硅漂移探测器(SDD,Silicon Drift Detector)专门为RF光谱仪和SEM扫描电镜EDS能谱仪探测器应用而设计,提供窗口材料的选择,从铍(8μm)到薄型聚合物(用于轻型透射),并提供10mm2至60mm2的传感器有源区域. 此外,所有或我们的SEM SDD版本都是无振动的。

AMETEK  FAST SDD 检测器

SDD探测器

IXRF电制冷(LN-free)硅漂移探测器与具有**性的、基于以太网的数字脉冲处理器相结合后,在探测范围上更加具有优势。根据用户的不同需求来进行配置,IXRF SDD探测器能够在一个较大的输入计数率范围内快速生成X射线图,并且性能稳定。SDD探测器既可以作为EDS的探头,也可以作为XRF的探头。窗口材料的选择范围为铍(8微米)到聚合物薄膜(轻元素),探测器有效面积有10mm2、30mm2、60 mm2三种。此外,SDD还可以免费升级。



AMETEK  FAST SDD 检测器的参数

型号  
有效面积    
窗口类型  
分辨率
SDD2310
10mm2Light Element (AP3.3) or 8μm Be
≥123
SDD271010mm2
Light Element (AP3.3) or 8μm Be≤127
SDD2810
10mm2Light Element (AP3.3) or 8μm Be≤128
SDD283030mm2Light Element (AP3.3) or 8μm Be≤128
SDD3030
30mm2Light Element (AP3.3) or 8μm Be≤130
SDD3360
60mm2Light Element (AP3.3) or 8μm Be

≤133






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