AMETEK FAST SDD 检测器 Amptek推出全新SDD探测器，针对扫描电镜能谱仪客户应用（EDS SEM）利用全新技术“C”系列X射线窗口(Si3N4)，能够对低能量区域元素快速响应，新Amptek SDD™可以很好的测试元素碳(C)，高效率快速SDD™是EDS光谱仪的方案。

     AMETEK  FAST SDD 检测器这款硅漂移探测器(SDD,Silicon Drift Detector)专门为RF光谱仪和SEM扫描电镜EDS能谱仪探测器应用而设计,提供窗口材料的选择，从铍（8μm）到薄型聚合物（用于轻型透射）,并提供10mm2至60mm2的传感器有源区域. 此外,所有或我们的SEM SDD版本都是无振动的。

SDD探测器

        IXRF电制冷（LN-free）硅漂移探测器与具有**性的、基于以太网的数字脉冲处理器相结合后，在探测范围上更加具有优势。根据用户的不同需求来进行配置，IXRF SDD探测器能够在一个较大的输入计数率范围内快速生成X射线图，并且性能稳定。SDD探测器既可以作为EDS的探头，也可以作为XRF的探头。窗口材料的选择范围为铍(8微米)到聚合物薄膜(轻元素)，探测器有效面积有10mm2、30mm2、60 mm2三种。此外，SDD还可以免费升级。 

AMETEK  FAST SDD 检测器的参数