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南京毫特科技有限公司
主營產品： 讀數顯微鏡價格,測量投影儀,軸承測磁儀,雙色電刻機,數顯傾角儀 |
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2024-8-2 閱讀(857)
齒厚卡尺綜合誤差檢具
使用說明
一、用途：對齒厚卡尺的綜合誤差進行檢定。
二、主要技術參數
1、外形尺寸（表1）：
測量范圍（mm） | 圓柱直徑（mm） | |
一個 | 第二個 | |
M1～16 M2～16 | φ5x40 | φ18x50 |
M5～36 | φ12x50 | φ35x50 |
表1
2、測量范圍：（見表1）
3、直徑偏差＜±0.002毫米
4、表面光潔度不低于10
三、檢定方法：
1、根據表1選定相應的尺寸進行檢測。
2、弦長S及相應弦高h按下式計算：
S=d*Soca0
……（2）
（S值和h值均應取至小數點后第二位）式中：S—弦長（毫米），h—弦高（毫米），d—圓柱直徑（毫米），a0—基本齒形角（度）。
為了讀數方便，可將h值的小數點后第二位變?yōu)榕紨?，然后按新?/span>h值帶入下式求出S值：
……（3）
3、檢定時，先將弦高按預先計算好的h值定好，然后測量弦長S，實測S值與理論S值之差即為綜合誤差。
圓柱直徑（毫米） （d） | 弦高（毫米） （h） | 理論S值 （S） |
φ5 | 1.645 | 4.699 |
φ12 | 3.948 | 11.276 |
φ18 | 5.922 | 16.915 |
φ35 | 11.515 | 32.890 |
注：本表為基本齒形角時h和S的相應理論值。
