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瞬態(tài)吸收泵浦探測(Pump-probe)光譜儀

改進的HARPIA具有時髦緊湊的設計，更直觀的客戶體驗以及便捷的日常維護。得益于ORPHEUS裝置生產線的標準，整個光譜系統(tǒng)被包含在一個單一的鋁盒中，這能夠確保*的光學穩(wěn)定性和相互作用光束小的光程差。和其前身對比，此裝置的尺寸規(guī)格大大的減少—面積減少了約2.6倍，而體積減少了約4倍。新的Harpia能夠很好的和PHAROS / ORPHEUS以及Ti:Sapph / TOPAS激光系統(tǒng)結合使用。和其前身一樣，它突顯市場主要特征例如和其他*的功能如高重復頻率（大到1MHz）這需要搭配PHAROS / ORPHEUS系統(tǒng)可以達到10-5可分辨信號。高重復頻率能夠以極低的單脈沖能量來激發(fā)樣品并測量瞬態(tài)吸收動力學（從而避免能量傳輸系統(tǒng)和非線性載體復合半導體/納米顆粒樣品的激子湮滅效應）。

瞬態(tài)吸收泵浦探測(Pump-probe)光譜儀

許多探測配置和檢測選項可以從簡單低成本的探測單一波長的二極管到利用白光超連續(xù)泵浦光譜分辨的寬波帶探測裝置。數(shù)據(jù)采集和測量控制現(xiàn)在是集成在HARPIA自身裝置中，改進的探測功能如：

■單一（僅樣品）或多種（樣品和參考）集合的光譜探測器

■和用戶喜歡的外部光譜儀集成方便

■光斑監(jiān)測和自校準能力（都是沿著泵浦探測光束的光學路徑和樣品平面）以及可選擇的光束自調整

■瞬態(tài)吸收和瞬態(tài)反射測量的自由切換

■能夠很好地將瞬態(tài)吸收和Z掃描實驗結合在同一個裝置

而且不同延遲線選項可以選擇從2ns(標準)到4ns覆蓋的延遲窗口同時HARPIA包含標準的線性絲杠（20mm/s0）或者快速滾珠絲杠（300mm/s）光學延遲平臺。

瞬態(tài)吸收泵浦探測(Pump-probe)光譜儀

許多光機的外部設備現(xiàn)在全部封裝在HARPIA機盒中，包含：

■光學斬波器，既能和多種不同頻率激光系統(tǒng)進行相位鎖定，也能在內部參考裝置中自由運行

■自動校準的Berek偏振補償器能夠自動的調整泵浦光的偏振方向（可選）

■自動橫向可翻轉的超連續(xù)光光譜發(fā)生器（適用于安全穩(wěn)定的超連續(xù)光譜發(fā)生器的材質是CaF2或者MgF2；可選）

■自動取樣光柵掃描儀能夠在泵浦和探測光的焦平面上傳送樣品，因此可以很好的避免樣品的過度曝光（可選）

而且，新的HARPIA為了和用戶喜愛的低溫恒溫或者蠕動泵浦系統(tǒng)兼容而設計的。（詳見安裝示意圖）

新的改善的客戶應用程序具有實驗導向，測量預設和特定應用的開發(fā)包。除了實驗自動化軟件，HARPIA包含數(shù)據(jù)分析包CarpetView來檢查獲得的數(shù)據(jù)，進行和目標分析，探測色散補償，指數(shù)擬合等。軟件包具有直觀用戶友好的使用界面。此軟件提供給了數(shù)據(jù)分析指導，實現(xiàn)從原始數(shù)據(jù)到高質量圖像和基于參數(shù)模擬模型的無縫轉換。所有的軟件都可以在MS Windows下運行，而且很容易使用。即使是新手在幾天時間內也能成為分析專家。

泵浦探測技術參數(shù)

參量	數(shù)值
光學元件支持的探測波長范圍	240–2600nm
探測波長范圍，超連續(xù)白光，1030nm泵浦	350–750nm, 480–1100nm
探測波長范圍，超連續(xù)白光，800nm泵浦	350-1100nm
探測器的波長范圍	200nm–1100nm, 700nm–1800nm, 1.2μm –2.6μm
光譜裝置的光譜范圍	180nm–24μm,通過選擇不同的光柵來實現(xiàn)
延遲范圍	1.7ns, 3.8ns, 7.8ns
延遲分辨率/小步長	16.67/2.08fs,33.3/4.16fs,66.7/8.32 fs
噪聲水平-單波長¹⁾	<10-5 (假設每個點平均積分時間2s)
噪聲水平-多通道探測²⁾	<2×10-5 (假設每個光譜平均積分時間5s)
激光重復頻率	1 – 1000 kHz (數(shù)位化頻率 <2 kHz)
時間分辨率	<1.4 x泵浦或者探測光脈沖寬度（取兩者之中脈寬較長者）
尺寸	420mm(W)× 730mm(L)× 160mm(H)