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當(dāng)前位置:> 供求商機(jī)> CAMTEK Eagle-I-CAMTEK 自動(dòng)光學(xué)檢驗(yàn) Eagle-I
CAMTEK 自動(dòng)光學(xué)檢驗(yàn) 2D檢測設(shè)備 EagleT-I
公司概述
Camtek是一個(gè)的開發(fā)商和制造商的半導(dǎo)體行業(yè)檢驗(yàn)和計(jì)量設(shè)備。Camtek的系統(tǒng)檢查和測量晶圓半導(dǎo)體器件的整個(gè)生產(chǎn)過程,包括前道和封裝,和組裝的檢測。Camtek系統(tǒng)檢查晶片是的半導(dǎo)體市場,包括先進(jìn)互連包裝、內(nèi)存、CMOS圖像傳感器、微機(jī)電系統(tǒng)和射頻,服務(wù)行業(yè)的全球IDMs OSATs和鑄造廠。
性能:Camtek檢驗(yàn)和計(jì)量系統(tǒng)可以在高通量檢測有缺陷的ICs可靠,確保只有known-good-die交付給客戶的最終產(chǎn)品。先進(jìn)的包裝技術(shù)的增長,已被證明是*的解決方案的產(chǎn)品,Camtek提供了各種檢驗(yàn)和計(jì)量技術(shù),可以根據(jù)客戶的需求快速高效地幫助他們滿足的要求沒有缺陷的產(chǎn)品以及支持需求增長和投放市場的時(shí)間。
主要應(yīng)用領(lǐng)域:CMOS傳感器陣列,LED良率監(jiān)測,MEMS特殊結(jié)構(gòu)監(jiān)測,TSV,mBUMP等。大量產(chǎn)的2D檢測適用于部分前道工藝:電鍍bump前后檢測、電測針印大小的檢測、OQC檢測、劃片后的檢測等;
產(chǎn)品優(yōu)勢:
基于CAD圖層檢測;
的圖像銳化功能;
可以檢測RDL后小到2um線寬;
兼容檢測方片、翹曲片;
可以檢測小到0.2um的表面缺陷;
多重放大倍數(shù),提高檢測能力。
Eagle是大量產(chǎn)的2D檢測設(shè)備,采用了CAMTEK的檢測系統(tǒng)。
大量產(chǎn)的2D檢測適用于部分前道工藝:
• 電鍍bump前后檢測;
• 電測針印大小的檢測;
• OQC檢測;
• 劃片后的檢測等;
同時(shí)又適用于器件的檢測:
• CMOS 圖像傳感器;
• MEMS特殊結(jié)構(gòu)監(jiān)測;
LED良率監(jiān)測等。
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