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Bruker  探針式表面輪廓儀（臺階儀）DektakXT

(一)、概述

布魯克DektakXT （探針式表面輪廓儀）設計創(chuàng)新，實現(xiàn)了更高的重復性和分辨率，垂直高度重復性<5Å。這一里程碑式的產品源自于Dektak系列占據業(yè)界ling xian地位長達四十年的優(yōu)異表面測量技術。實現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量，在微電子、半導體、太陽能、高亮度LED、觸摸屏、醫(yī)療、科學研究和材料科學領域大顯身手。

臺階高度重復性優(yōu)于5埃（<5 Å）

· 單拱龍門式設計實現(xiàn)了突破性的掃描穩(wěn)定性

· 先進的”智能化電子器件”實現(xiàn)了低噪聲的新*

操作簡便，高效易用

· 直觀化的Vision64TM軟件簡化了用戶界面的操作過程

· *的傳感器設計使得在單一平臺上即可實現(xiàn)超微力和較大的力測量

· 自對準的探針設計使用戶可以輕而易舉地更換探針

探針式輪廓儀的ling 導 zhe

· 性能zhuo yue，物超所值

· 完備的零配件為您優(yōu)化或延伸機臺的多種應用提供保障