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貨物所在地：北京北京市
所在地： 美國(guó)
更新時(shí)間：2025-02-18 21:00:07
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美國(guó)布魯克Bruker原子力顯微鏡-- Dimension Icon
Bruker公司的AFM具有多項(xiàng)技術(shù)，以其的性能廣泛應(yīng)用于科研和工業(yè)界各領(lǐng)域
Dimension Icon 系列作為布魯克公司(Bruker AXS)原子力顯微鏡的旗艦產(chǎn)品，凝聚了多項(xiàng)行業(yè)的技術(shù)，是二十多年技術(shù)創(chuàng)新、客戶(hù)反饋和行業(yè)應(yīng)用的結(jié)晶。
應(yīng)用：
應(yīng)用于科研和工業(yè)界各領(lǐng)域，涵蓋了聚合物材料表征，集成光路測(cè)量，材料力學(xué)性能表征，MEMS制造，金屬/合金/金屬蒸鍍的性質(zhì)研究，液晶材料性能表征，分子器件，生物傳感器，分子自組裝結(jié)構(gòu)，光盤(pán)存儲(chǔ)，薄膜性能表征等領(lǐng)域的監(jiān)測(cè)等各類(lèi)科研和生產(chǎn)工作。
原子力顯微鏡的工作模式是以針尖與樣品之間的作用力的形式來(lái)分類(lèi)的。主要有以下3種操作模式：接觸模式（contact mode) ，非接觸模式（ non - contact mode) 和敲擊模式( tapping mode）。
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