ContourX-200 3D光學(xué)輪廓儀

用于表面紋理計量的靈活臺式

ContourX-200光學(xué)輪廓儀將先進的特性，可自定義的選項以及易用性融合，可提供yi 流的快速，準確和可重復(fù)的非接觸式3D表面度量。具有測量功能的小尺寸系統(tǒng)使用較大的FOV 5 MP數(shù)碼相機和新型電動XY位移臺，可提供毫不妥協(xié)的2D / 3D高分辨率測量功能。 ContourX-200還配有業(yè)界先進的操作和分析軟件Vision64®。新型VisionXpress™提供了更易于使用的界面和簡化的功能，可訪問廣泛的預(yù)編程濾鏡和分析庫，用于精密加工的表面，厚膜，半導(dǎo)體，眼科，醫(yī)療設(shè)備，MEMS和摩擦學(xué)應(yīng)用。 ContourX-200具有的Z軸分辨率和精度，在不限制傳統(tǒng)共聚焦顯微鏡和競爭性標準光學(xué)輪廓儀的情況下，提供了布魯克專有的白光干涉儀（WLI）技術(shù)的所有業(yè)界*的優(yōu)勢。

ContourX-200 3D光學(xué)輪廓儀

輪廓GT-K

毫不妥協(xié)的yi 流計量

基于ContourX-200光學(xué)輪廓儀超過四十年的專有WLI創(chuàng)新，該輪廓儀展現(xiàn)出定量計量所需的低噪聲，高速，高精度和高精度結(jié)果。通過使用多個目標和集成的特征識別功能，可以在各種視野內(nèi)以亞納米級的垂直分辨率跟蹤特征，從而為非常不同的行業(yè)中的質(zhì)量控制和過程監(jiān)控應(yīng)用提供了與比例無關(guān)的結(jié)果。 ContourX-200在從0.05％到100％的反射率的所有表面情況下都非常堅固。

輪廓X-200

WLI為所有目標提供恒定且終的垂直分辨率。

輪廓X-200

ContourX-200電動載物臺。

廣泛的應(yīng)用分析能力

利用強大的VisionXpress和Vision64用戶界面，ContourX-200提供了數(shù)千種定制分析，以提高實驗室和工廠車間的生產(chǎn)率。系統(tǒng)新相機提供的更大FOV和新型電動XY工作臺提供的靈活性，為各種樣品和零件提供了更大的靈活性和更高的通量。硬件和軟件相結(jié)合，可提供對ding 級光學(xué)性能的簡化訪問，*超越了同類計量功能。