布魯克 D8 Venture X射線單晶衍射儀

2^nd D8 VENTURE/QUEST—面向未來的單晶X射線衍射儀

2^nd D8 VENTURE/QUEST是布魯克公司推出的功能強大的X射線單晶衍射儀。一體化的設(shè)計，配備目前良好的光源以及PHOTON II CPAD探測器，幫助您測試zui富有挑戰(zhàn)性的晶體，獲得質(zhì)量高的數(shù)據(jù)。其主要特點為：

1、同時適合小分子晶體學(xué)和蛋白質(zhì)晶體學(xué)的研究需要，應(yīng)用范圍廣。

2、新一代的Ius 3.0微焦斑光源，性能媲美微焦斑轉(zhuǎn)靶，零維護，壽命超長。

3、液態(tài)金屬靶MetalJET，室neiX射線光源，強度遠遠高于微焦斑轉(zhuǎn)靶，讓您擁有個人的“同步輻射”，解決困難的晶體學(xué)問題，比如GPCR膜蛋白的結(jié)構(gòu)。

4、采用四代光源XFEL探測器技術(shù)的PHOTON II CPAD探測器，超大面積，超快速度，*，單光子檢測的靈敏度。

5、雙靶配置，軟件自動切換光源。滿足不同類型的研究需要。元件自動識別，智能化光路管理。

6、新一代的APEX3/PROTEUM3軟件，功能強大，智能化程度高，輕松操控儀器，獲得好數(shù)據(jù)。

布魯克 D8 DISCOVER  X射線多晶衍射儀

D8 DISCOVER

D8 DISCOVER with Davanci Design
布魯克公司全新的D8 DISCOVER X射線衍射儀，材料研究領(lǐng)域的良好X射線衍射系統(tǒng)。采用創(chuàng)造性的達芬奇設(shè)計，配備了集成化的DIFFRAC.SUITETM軟件，附件自動識別、即插即用以及*集成化的二維XRD2功能。這些特征使得用戶可以非常方便的在材料研究領(lǐng)域的不同應(yīng)用之間切換，包括：反射率測量(XRR)、高分辨測量(HRXRD)、掠入射(GID)、面nei掠入射(IP-GID)、小角散射(SAXS)以及殘余應(yīng)力和織構(gòu)分析。
主要應(yīng)用
高分辨XRD(HRXRD)
外延多層膜厚度；晶胞參數(shù)；晶格錯配；組份；應(yīng)變及弛豫過程；橫向結(jié)構(gòu)；鑲嵌度
X射線反射率(XRR)
薄膜厚度；組份；粗造度；密度；孔隙度
倒易空間圖譜(RSM)
晶胞參數(shù)；晶格錯配；組份；取向；弛豫；橫向結(jié)構(gòu)
面nei掠入射衍射 (in-plane GID)
掠入射小角X射線散射(GISAXS)
晶胞參數(shù)；晶格錯配；橫向關(guān)聯(lián)性；取向；物相組成；孔隙度
應(yīng)力和織構(gòu)分析
取向分布；取向定量；應(yīng)變；外延關(guān)聯(lián)；硬度
物相鑒定(Phase ID)
物相組成；d值確定；擇優(yōu)取向；晶格對稱性；晶粒大小