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上海政飛電子科技有限公司

銷售泰克 370A 晶體管測試儀

時間:2016-8-11 閱讀:4630
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半導體特性曲線圖示儀 CS-3000系列 (符合 UL 規(guī)格)TOP

非常適合測量不同類型半導體(包括IGBT、MOSFET、晶體管和二極管)的特性

zui大峰值電壓:3000 V(高電壓模式,適合所有型號)
zui大峰值電流:1000 A(CS-3300高電流模式)
所有型號均支持漏電流(LEAKAGE)測試模式(光標分辨率:1 pA)
USB接口(保存屏幕圖像和設置條件)
LAN接口(遠程控制)
CS-3100、CS-3200、CS-3300


產品系列

 產品名稱型號備注
主機半導體特性曲線圖示儀CS-31003000V /無高電流模式- CS-301 / CS-500
半導體特性曲線圖示儀CS-32003000V / 400A(高電流模式)- CS-302 / CS-500
半導體特性曲線圖示儀CS-33003000V / 1000A(高電流模式)- CS-302 / CS-500
測試臺S型測試臺CS-301CS-3100標配
M型測試臺CS-302CS-3200 / CS-3300標配
測試適配器測試適配器CS-500主控裝置附送1個測試適配器
TO型測試適配器CS-501適用于TO型封裝(3個引腳)的插口
鱷魚夾小型鱷魚夾(紅色) x 10CS-001M型測試臺選件:CS-302
小型鱷魚夾(黑色) x 10CS-002M型測試臺選件:CS-302
軟件選件半導體參數(shù)搜索CS-800該軟件選件需與CS-3000系列配合安裝
半導體參數(shù)測量CS-810主控裝置中裝有CS-800時,該選項可以在PC(可選)上使用。

用戶友好的測量屏幕

圖形配置屏幕晶體管V-I特性示例(跟蹤模式)
圖形配置選擇晶體管I-V特性示例(Trace模式)

大電流脈沖模式(波模式)下的Vbe和Ic波形
高電流脈沖模式(波模式)下的Vbe和Ic波形

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