Werth FlatScope平面零件光学扫描仪适于工厂高速栅格二维扫描测量平面类零件，如线路板、手机外壳、模板等。封闭式结构，平面光源位于顶部机盖，CCD变焦系统位于机器底部，快速聚焦于大玻璃工作台表面，可同时测量位于工作台表面各种不同类型零件。

作为测量仪器，该扫描仪是当今世界上测量二维工件zui精确的二维扫描仪（申请中）.

主要特点：
◆ 高速的矩阵式扫描系统，适用于生产现场的二维测量
◆ 工业图像处理系统，扫描规则的几何元素及自由轮廓
◆ 被测工件可任意位置放置
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◆ 利用投射光和透射光进行工件扫描
◆ 快捷方便的WinWerth评估软件
◆ WinWerth软件CAD在线和*公差拟合测量
◆ 平面光源
◆ 精度采用高标准双边标定

技术参数：
测量范围（玻璃工作台 尺寸）:
X = 400/650mm
Y = 200/400/600mm
zui大工件高度：Z = 100mm
光栅尺分辨率：0.1µm

测量机zui大允许误差:

变焦:
1)E1: (2.5+L/120) µm
 E2: (2.9+L/100) µm

固定镜头 0.4x:
2)E1: (4.9+L/100) µm
 E2: (4.9+L/75) µm

固定镜头 0.2x:
2)E1: (9+L/100) µm
 E2: (9+L/75) µm

1)20℃±2o Δ=1o/h  5X镜头  2)20℃±2度　Δ=1度/h
依据标准 ISO 10360 和 VDI/VDE 2617