MC3000A高精度涂层测厚仪0.1um   影响因素的有关说明

a 基体金属磁性质

磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。

b 基体金属电性质

基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

c 基体金属厚度

每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。

d 边缘效应

本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

e 曲率

试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

f 试件的变形

测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。

g 表面粗糙度

基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。

g 磁场

周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。

h 附着物质

本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。

测头压力

测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。

 测头的取向

测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。

MC3000A高精度涂层测厚仪0.1um   主要性能

● 基本测量模式：常规模式，zui小值模式，统计模式

● 监控测量模式：可进行差值设置，上下限报警设置

● 可删除存储单个数据，某一组数据或全部数据

● 可进行零点校准、两点校准及系统校准

● 可设置关机方式，背光开或闭，恢复出厂状态

● 可打印存储值，也可打印统计值

● 分组存储数据共6组，每组存100个测量点

●可分组查看存储测量值

二、MC3000A涂层测厚仪技术参数：

1、测量范围：  MC-3000A   0-1200um

                           MC-3000C   0-5000um

                           MC-3000D   10-9000um

2、显示精度：   0.1um    

3、欠电压显示：  左上角显示＂＂

4、显示方式 ：   3位液晶数字显示    

5、储存方式： 手动存储测量    

6、测量误差： 测量误差（H为被测覆层厚度）：

A: ±[（1~3）%H+1um]  

C:±[（2~3）%H+1um]  

D: ±(3%H+1um)

重复性：

A:±（0.5%H+1um）

C:±（1%H+1um）

D:±（1%H+2um）

显示精度：0~99u：0.1 um； 100~999um：1um；  1mm~9mm: 0.01mm

7、存 储 值： 6组每组100个测量点    

8、统计功能： 平均值、zui大值、zui小值    

9、使用环境： 温度0°C ～ 40°C       相对湿度小于90%    

10、电   源： 2节5号电池，连续使用时间达200小时     

11、自动关机： 可人工设置关机方式    

12、键    盘： 6键防水，防油键盘    

13、尺寸/重量： 146*81*30MM   360克    

14、可选附件： 打印机及通讯打印连线 、微机通讯软件、内防腐探头    

15、标准配置： 主机、探头、标准样片、说明书 、保修卡、合格证 、五号电池、手提箱

MC3000A高精度涂层测厚仪0.1um