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日本日置電阻計RM3545介紹
閱讀：1094 發(fā)布時間：2021-11-8
日本日置電阻計RM3545概述
微電阻計的使用方法：接觸電阻的測量(低電流電阻測量)
連接器的接觸電阻和用于小信號的繼電器的接點(diǎn)電阻的低電阻測量方法分別按照J(rèn)IS標(biāo)準(zhǔn)和IEC標(biāo)準(zhǔn)來制定?？梢允褂秒娮栌婻M3545進(jìn)行對應(yīng)的低電流電阻測量(干電路測試)。為了不破壞接觸部分的氧化物層，可以在開路端子電壓20mV以下、測試電流1mA以下進(jìn)行0.1μΩ～1kΩ的測量，適用于接觸電阻檢查。
微電阻計的使用方法：對熱電動勢的影響進(jìn)行補(bǔ)償
低阻測量中由于不同金屬的連接部分所產(chǎn)生的電壓(熱電動勢)不同，有時會導(dǎo)致測量值不穩(wěn)定。電阻計RM3545具備對熱電動勢的影響進(jìn)行補(bǔ)償?shù)摹捌秒妷盒Ｕ?OVC)功能"。適用于對如匯流排焊接部分這類低電阻進(jìn)行測量。
4端子測量電阻率
使用RM3545，可使用損耗較小的4端子方法來測量電阻率。
日本日置電阻計RM3545特點(diǎn)
★ 基本精度0.006%，樶小分辨率0.01μΩ，樶大測量電流1A
★ 可測范圍0.00μΩ(測試電流1A)~1200MΩ
★ 使用多路轉(zhuǎn)接器單元Z3003(選件)可進(jìn)行多點(diǎn)測量(4端子20ch)和可綜合判斷的多路轉(zhuǎn)接器功能(僅限RM3545-02)
★ 開路端口電壓20mV以下的低功率電阻測量
★ 高速支持自動化判別，從測量開始到判斷輸出最快2.2ms