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法國Phasics的紅外高分辨率波前分析儀
SID4 SWIR HR波前分析儀，0.9-1.7 μm超高采樣分辨率
法國Phasics提供的SID4 SWIR HR紅外高分辨率波前分析儀集成了InGaAs探測器和Phasics特殊的知識產權技術——四波橫向剪切設計而成的。由于SID4 SWIR HR近紅外波前分析儀的超高采樣分辨率（160 x 128 phase pixels）和高靈敏度，可以精確的測量900 nm到1.7 μm的波前數據。短波紅外波前傳感器SID4 SWIR HR是一種創(chuàng)新的設計方案，它的鏡頭可以應用于光通信，儀器檢測，軍事或夜視監(jiān)測等領域。
SID4 SWIR HR超高采樣分辨率波前傳感器的主要特點：
- 覆蓋0.9-1.7 μm短波紅外波段
- 160 x 128的高相位采樣分辨率
- 高感光靈敏度，可適用于低功率紅外光源測試
SID4 SWIR HR近紅外波前分析儀的主要應用：
- 激光，自適應光學
- 光學元件及光學系統(tǒng)計量
- 等離子體檢測
法國Phasics的紅外高分辨率波前分析儀
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