國(guó)產(chǎn)透過(guò)率測(cè)試儀

國(guó)產(chǎn)透過(guò)率測(cè)試儀，積分球采光，380-1100nm

我們提供的XP-T-2000系列國(guó)產(chǎn)透過(guò)率測(cè)試儀是全波長(zhǎng)透過(guò)率測(cè)試儀，使用透射積分球采光，能夠快速測(cè)量絕對(duì)透過(guò)率，并且能實(shí)時(shí)快速準(zhǔn)確地測(cè)量各類平面、非平面等材料的絕對(duì)透過(guò)率，還可用于實(shí)時(shí)顯示單、多點(diǎn)波長(zhǎng)絕對(duì)透過(guò)率和數(shù)據(jù)及制定波段平均透過(guò)率數(shù)據(jù)。適用于手機(jī)蓋板IR孔、棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、太陽(yáng)膜、濾光片等平面、光學(xué)元件及組合鏡頭等的檢測(cè)。

系統(tǒng)特點(diǎn)：

我們提供的國(guó)產(chǎn)透過(guò)率測(cè)試儀的適用場(chǎng)景十分廣泛，在各種場(chǎng)景都可以使用，并且測(cè)量迅速，是可以在毫秒級(jí)時(shí)間內(nèi)測(cè)量全譜信息的全波長(zhǎng)透過(guò)率測(cè)試儀，并且使用的是積分球采光，可以測(cè)量待檢測(cè)樣品的絕對(duì)透過(guò)率，還可設(shè)置檢測(cè)區(qū)間，十分方便。

- 快速全譜測(cè)量，可在毫秒級(jí)時(shí)間內(nèi)測(cè)量全譜信息；

- 可以適應(yīng)不同實(shí)驗(yàn)環(huán)境，手套箱、實(shí)驗(yàn)室、辦公室、車間均可以使用；

- 采用積分球采光，消除由樣品折射率、散射等因素引起的誤差；

- 軟件可設(shè)置透過(guò)率質(zhì)檢區(qū)間，自動(dòng)判斷NGOK等等。

我們作為集研發(fā)、生產(chǎn)、服務(wù)于一體的高科技公司，致力于為全球客戶提供的技術(shù)產(chǎn)品和服務(wù)，擁有多年光譜快速檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)，為物理光電、功能材料、化學(xué)化工、環(huán)境科學(xué)、食品科學(xué)、生命科學(xué)、農(nóng)學(xué)等不同領(lǐng)域提供數(shù)以百計(jì)的測(cè)量方案，尤其在QLED、OLED、PLED、MircoLED、LED、量子點(diǎn)發(fā)光材料、熒光粉、光色電測(cè)量領(lǐng)域獲得了豐富的案例，以準(zhǔn)為本，客戶思維，科技至上，至誠(chéng)至堅(jiān)，合作共贏，建設(shè)高效、快速為一體測(cè)量解決方案。

國(guó)產(chǎn)透過(guò)率測(cè)試儀