能量色散X荧光光谱仪XD-1000全自动膜厚仪上照式光谱测厚仪是一款专用于检测各种异形件，各类镀层厚度分析的同时可对电镀液进行分析，适用于各种超大件、异形凹槽件、微小密集型多点测试或自动逐个 检测大量的小部件

特别是五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析光谱仪。

被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

1）搭载微聚焦X射线发生器和优良的光路转换聚焦系统拥有无损变焦检测技术，最小测量面积可达0.01mm2

2）手动变焦功能，可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-70mm

3）核心EFP算法，可对多层多元素快、准、稳的做出数据分析，配备全自动可编程移动平台，可实现无人值守，多点位、多样品的精准位移和同时检测

4）可同时分析23个镀层、24种元素，测量元素范围：氯Cl（17）- 铀U（92），涂镀层分析范围：锂Li（3）- 铀U（92），涂镀层检出限：0.005μm

5）人性化封闭软件，自动判断故障提示校正及操作步骤，避免误操作

6）标配φ0.2mm准直器

7）配有微光聚集技术，最近测距光斑扩散度小于10%

应用领域

仪器参数