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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
EDX-LE能量色散X射線熒光光譜儀使用X射線照射樣品，測(cè)量所產(chǎn)生的熒光X射線的能量（波長(zhǎng)）和強(qiáng)度，以確定樣品中元素組成的種類和含量。由于X射線熒光光譜法可以非破壞性分析固體、粉末、液體樣品，也可以快速、非破壞性的測(cè)試印刷電路板和其他電子設(shè)備中有害元素，因此被廣泛用于的電子電氣和汽車制造企業(yè)，應(yīng)用于符合歐盟RoHS/ ELV指令的檢查和質(zhì)量控制。
詳細(xì)介紹
EDX-LE能量色散型X射線熒光分析儀 EDX-LE是一款于RoHS/ELV/法規(guī)限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。 配備無需液氮型電子制冷（Si-PIN檢測(cè)器）檢測(cè)器，因此在實(shí)現(xiàn)降低運(yùn)作成本和更易維護(hù)的同時(shí)，以維持高可信性分析和進(jìn)一步提高操作性達(dá)到自動(dòng)化分析為目標(biāo)。 根據(jù)不同樣品從開始測(cè)試到得到結(jié)果所需測(cè)試時(shí)間基本上可在1分鐘內(nèi)完成，所以*可以應(yīng)對(duì)RoHS法規(guī)中所限制的有害元素的篩選分析。另外，zui近幾年在眾多企業(yè)中實(shí)施的自行檢測(cè)有害元素Cl的檢測(cè)分析，該款裝置也可以通過篩選分析簡(jiǎn)單的檢測(cè)出來。同時(shí)推薦該裝置作為中國(guó)版RoHS第二階段應(yīng)對(duì)手段。
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