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产品简介
SPM-8000FM高分辨率扫描型探针显微镜岛津能够提供钢铁、有色金属、环境、食品、化工、制药、半导体、陶瓷及高分子等众多领域客户,多种样品分析所需要的种类繁多的分析仪器。电子探针（EPMA）分析对象从几厘米到几微米；X射线光电子能谱仪（XPS）分析对象从几毫米到几微米；扫描探针显微镜（SPM）观察范围从100微米到几纳米。
详细介绍
SPM-8000FM高分辨率扫描型探针显微镜
HR-SPM HR-SPM是采用频率检测方式（Frequency Modulation）的新一代扫描探针显微镜。不仅可在大气·液体环境中实现超高分辨率的观察，还*实现了固液界面的水化作用层（hydration）·溶剂化作用层（solvation）的观察。 |  |
SPM-8000FM高分辨率扫描型探针显微镜HR-SPM的特点
●采用FM(频率调制)方式 以往的SPM（扫描型探针显微镜）/AFM（原子力显微镜）是AM（振幅调制）方式，而FM（频率调制）方式从原理上就因为高灵敏度检测从而可实现更高的分辨率。 SPM：Scanning Probe Microseope |  |
和以往SPM/AFM相比的不同
液体中原子分辨率观察
 | 图为在饱和溶液中观察NaCl表面的原子排列。以往AFM（AM方式：左）湮没在噪声中的原子通过FM方式（右）则可以清晰地观察到。 FM方式可以得到真正的原子分辨率（True Atomic Resolution）。 |
大气中Pt催化粒子的KPFM观察
 | TiO2基板上的Pt催化粒子被识别了出来，并通过KPFM进行表面电势的测定。可以观察到数nm大小的Pt粒子和基板间的电荷交换。右图中，红色○区域是正电势，蓝色□区域是负电势?？杉杂贙PFM观察，分辨率也得到了大幅的提高。 ＊KPFM（Keivin Probe Force Microscope）功能为特殊定制。 |
<引用文献>
| 1) | Ryohei Kokawa, Masahiro Ohta, Akira Sasahara, Hiroshi Onishi, Kelvin Probe Force Microscopy Study of a Pt/TiO2 Catalyst Model Placed in an Atmospheric Pressure of N2 Environment, Chemistry - An Asian Journal, 7, 1251-1255 (2012). |
