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天津綜科科技有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品： 粉塵中游離二氧化硅檢測(cè)儀,精密光學(xué)平臺(tái),TJ270-30A紅外分光光度計(jì) |
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主營(yíng)產(chǎn)品： 粉塵中游離二氧化硅檢測(cè)儀,精密光學(xué)平臺(tái),TJ270-30A紅外分光光度計(jì) |
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郭（同）
RTS-1345型全自動(dòng)四探針測(cè)試系統(tǒng)
可對(duì)樣品進(jìn)行單點(diǎn)、五點(diǎn)、九點(diǎn)、多點(diǎn)、直徑掃描、面掃描等模式的全自動(dòng)測(cè)試；
屏蔽測(cè)試，*消除光線對(duì)樣品測(cè)試的影響，保證測(cè)量的準(zhǔn)確性；
吸附測(cè)試，*消除全自動(dòng)測(cè)試過程中樣品移動(dòng)對(duì)測(cè)試的影響；
可不連接電腦使用進(jìn)行單點(diǎn)、中心五點(diǎn)、邊緣五點(diǎn)測(cè)試并把測(cè)試結(jié)果同時(shí)顯示于顯示屏；
RTS-1345型全自動(dòng)四探針測(cè)試系統(tǒng)是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合全自動(dòng)測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。
儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、真空泵、屏蔽罩、計(jì)算機(jī)等部分組成，測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制進(jìn)行全自動(dòng)測(cè)試，然后把測(cè)試數(shù)據(jù)采集到計(jì)算機(jī)中加以分析，以表格、圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。
RTS-1345型四探針軟件測(cè)試系統(tǒng)是一個(gè)運(yùn)行在計(jì)算機(jī)上擁有友好測(cè)試界面的用戶程序，通過此測(cè)試程序輔助使用戶簡(jiǎn)便地進(jìn)行各項(xiàng)測(cè)試及獲得測(cè)試數(shù)據(jù)并對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。
測(cè)試程序控制四探針測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)量并采集測(cè)試數(shù)據(jù)，把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析，然后把測(cè)試數(shù)據(jù)以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對(duì)采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看，還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中，讓用戶對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析。
技術(shù)指標(biāo) ：
測(cè)量范圍電阻率：0.0001～2000Ω.cm(可擴(kuò)展)；
方塊電阻：0.001～20000Ω/□(可擴(kuò)展)；
電導(dǎo)率：0.0005～10000 s/cm；
電阻：0.0001～2000Ω.cm；
可測(cè)晶片直徑 Φ=200mm；
恒流源電流量程分為0.1mA、1mA、10mA、100mA四檔，各檔電流連續(xù)可調(diào)
數(shù)字電壓表量程及表示形式：000.00～199.99mV；
分辨力：10μV；
輸入阻抗：>1000MΩ；
精度：±0.1% ；
顯示：四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示；極性、超量程自動(dòng)顯示；
四探針探頭基本指標(biāo)間距：1±0.01mm；
針間絕緣電阻：≥1000MΩ；
機(jī)械游移率：≤0.3%；
探針：碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm；
探針壓力：5～16 牛頓(總力)；
四探針探頭應(yīng)用參數(shù)(見探頭附帶的合格證)
模擬電阻測(cè)量相對(duì)誤差
( 按JJG508-87進(jìn)行) 0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字
整機(jī)測(cè)量zui大相對(duì)誤差(用硅標(biāo)樣片：0.01-180Ω.cm測(cè)試)≤±5%
整機(jī)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)不確定度≤5%
測(cè)試模式連接電腦使用可對(duì)樣品進(jìn)行單點(diǎn)、五點(diǎn)、九點(diǎn)、多點(diǎn)、直徑掃描、面掃描等模式的全自動(dòng)測(cè)試，不連接電腦情況下可進(jìn)行單點(diǎn)、中心五點(diǎn)、邊緣五點(diǎn)測(cè)試并把測(cè)試結(jié)果同時(shí)顯示于顯示屏。消除測(cè)試過程中影響因素屏蔽和吸附測(cè)試，*消除光線和全自動(dòng)測(cè)試過程中樣品移動(dòng)對(duì)樣品測(cè)試的影響，保證測(cè)量的準(zhǔn)確性。
標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境溫度：23±2℃；
相對(duì)濕度：≤65%；
無高頻干擾；
無強(qiáng)光直射；
天津綜科科技有限公司專業(yè)生產(chǎn)(供應(yīng))銷售紅外分光光度計(jì)、粉塵中游離二氧化硅檢測(cè)儀、粉塵中游離二氧化硅測(cè)試儀、粉塵中游離二氧化硅分析儀、粉末壓片機(jī)、電動(dòng)粉末壓片機(jī)、自動(dòng)粉末壓片機(jī)、紅外壓片機(jī)、扣式電池封口機(jī)、全自動(dòng)壓片機(jī)、進(jìn)口紅外粉末壓片機(jī)、單沖壓片機(jī)、紅外壓片模具、進(jìn)口紅外壓片模具、X熒光硼酸模具、鐵環(huán)模具、圓柱型開瓣模具、長(zhǎng)方型開瓣模具、圓柱型電加熱模具、平板模具、紅外烘干箱、紅外烘烤箱、瑪瑙研缽器、溴化鉀粉末、溴化鉀碎晶、紅外可拆液體池、紅外固定液體池、紅外氣體池、溴化鉀窗片、氟化鈣窗片、硒化鋅窗片、氟化鋇窗片、紅外窗片、紅外/紫外/熒光石英比色皿、石英窗片、四探針測(cè)試儀、四探針金屬/半導(dǎo)體電阻率測(cè)量?jī)x等系列產(chǎn)品,公司具有良好的市場(chǎng)信譽(yù),專業(yè)的銷售和技術(shù)服務(wù)團(tuán)隊(duì)?憑著生產(chǎn)經(jīng)營(yíng)紅外壓片模具系列多年經(jīng)驗(yàn)質(zhì)量保證、*、售后服務(wù)周到是值得廣大客戶信賴的專業(yè)供應(yīng)商。我公司長(zhǎng)年與全國(guó)各大高校、研究所、研究院、藥廠等多部門企事業(yè)單位實(shí)驗(yàn)室建立合作關(guān)系，受到廣大新老客戶的一直好評(píng)。
