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便携式紫外线强度计UV-313/UV-340采用SMT贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
特点
光谱及角度特性经严格校正
数字液晶显示，带背光
手动/自动量程切换
数字输出接口（USB,冗余供电）
低电量提醒
自动延时关机
有数字保持
轻触按键操作，蜂鸣提示
技术参数
| 项目 | 参数 | 备注 |
| 波长范围λ1，峰值波长λp | （290～340）nm，λP＝313nm | 用户二选一 |
| 波长范围λ2，峰值波长λp | （315～370）nm，λP＝340nm | |
| 辐照度测量范围 | （0.1～199.9×103） μW/cm2 | |
| 零值误差（满量程FS） | <满量程的±1.0% | |
| 长波响应误差 | <15% | |
| 余弦特性（方向性响应）误差 | <10% | |
| 非线性误差 | <±1.5% | |
| 换档误差 | <±1.0% | |
| 疲劳误差 | <3.0% | |
| 相对示值误差 | <±8.0％（相对于NIM标准） | |
| 响应时间 | <1秒 | |
| 使用环境 | 温度(0~40)℃；湿度＜85％RH | |
| 尺寸和重量 | 160mm×78mm×43mm；0.2kg | |
| 电源 | 6F22型9V积层电池（非充电电池） | |
| 整机功耗 | ＜0.1VA |
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