手持式光譜儀用鎳上鍍銠厚度標準片
手持式光譜儀用鎳上鍍銠厚度標準片是通過濺射或電鍍方法將高純度鈀沉積在鎳基材上。是用于校準便攜式手持XRF設(shè)備，以測量鎳基材上鍍銠的產(chǎn)品。手持式光譜儀用厚度標準片是堅固不易彎曲的材料，安裝在帶有十字線的陽極氧化鋁板上，以方便手持XRF儀器的定位和校準。

鎳上鍍銠厚度標準片 Rh/Ni (Rhodium/Nickel) Coating Thickness Handheld XRF Standards
Rh/Ni，理論厚度：20微英寸（0.5微米）
Rh/Ni，理論厚度：40微英寸（1微米）
Rh/Ni，理論厚度：80微英寸（2微米）
Rh/Ni，理論厚度：100微英寸（2.5微米）

以上為常用厚度，如需要特殊厚度或需要其他基材，請聯(lián)系上海益朗儀器有限公司。

注意：
1.對于小于等于1微米（40μin）的厚度，交貨標準的允許厚度偏差為±10％。
2.如果厚度> 1微米（40μin），則所交付標準的允許層厚度偏差為±15％。
3.均勻度：5％。
4.認證厚度不確定度（95％置信區(qū)間）±5％。

定義：
均勻度的定義是：（大厚度–小厚度）/平均
    表示為百分比，其中可以在標準暴露表面的任何位置確定厚度。