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LZ-373型多功能膜厚测量仪
品牌：日本Kett
LZ-373型多功能膜厚测量仪用于磁性金属上的非磁性被膜及非磁性金属物上的绝缘被膜之测量，为双功能型膜厚计。处理多种素材及多样被膜之工作现场使用。
373系列皆可将资料打印或转送计算机储存；机体搭载有16项功能，并备有打印机、测量台、外部输出线及资料管理软件供选购利用。
特色：
· 中文界面
具备中文、日文、英文、韩文四种操作语言显示，操作简单明了。
· 100组检量曲线记忆容量
使用者可将所有工件分类，将检量曲线各别建立，开机即可上使用，不需再校正。
· 测量值具查阅功能
工作现场的量测值zui多可记忆3,000笔，使用者可在「删除数据」功能下，一一查阅每一笔测量值。
· 具统计平均功能
统计计算范围可由使用者自行设定，统计计算zui大值、zui小值、平均值及标准差值。
· 具连续扫瞄测量功能
373系列膜厚计搭载「单点测量」及「连续测量」功能，广用于各种表面状况及排除测量争议。
· 具资料传输功能
测量数值可外接打印机VZ-330(选购)或外接计算机。测量时实时传输或测量后一并传输皆可。
规格：
| 测量方式 | 电磁诱导式 |
| 测量对象 | 磁性金属上非磁性被膜 及非磁性金属上的绝缘被膜 |
| 测量范围 | 0～2,500μm或0～99.0mils 或 0～1,200μm或0～47.0mils |
| 测头型式 | 单点接触定压式（LEP-J & LHP-J） |
| zui小测量面积 | 5x5mm |
| 测量精度 | 50μm以下：±1μm；50μm～1,000μm：±2%；1,000μm以上:±3% |
| 分辨率 | 100μm以下：0.1μm；100μm以上：1.0μm |
| 检量曲线 | 电磁式50组、涡电流式50，共100组检量曲线记忆 |
| 资料记忆数 | 约39,000笔，资料具查阅功能 |
| 测量功能 | 具单点测试、连续扫瞄测试，可测试膜厚分布变化 |
| 显示方式 | 背光式LCD(18064dots)数位显示zui小解析0.1μm |
| 外部输出 | 可将资料输出至个人计算机或打印机（RS-232C) |
| 电 源 | 单3碱性电池x4颗 |
| 电力消耗 | 80mW(当背光关闭时) |
| 电池寿命 | 约100小时(连续使用，背光关闭时) |
| 操作环境 | 0～40℃ |
| 应用功能 | 检量线选择、素材补正、资料删除、资料记忆、上下限设定、统计计算(测量次数、平均值、标准偏差、zui大值、zui小值)、显示选择、日期时间、自动关机时间、背光亮度、背光时间、单位切换、资料输出、自动批号区分、测量方式、维修模式等功能 |
| 尺 寸 | W75xD140H31(mm) |
| 重 量 | 约340g |
| 标准配件 | 标准片盒子、单3号碱性电池1.5Vx4颗、曲面固定器、携带皮套 |
| 专属配件 | 铁素材(FE373)、铝素材(NFE-373)、标准片6片组(10μm、50μm、100μm、500μm、1,000μm、1,500μm) |
| 选购配备 | 标准片(配件以外的厚度)、膜厚计测台LW-990、USB计算机传输线、打印机VZ-330、打印机传输线、RS-232C&USB转换线、资料管理软件LDL-02、资料管理软件McWAVE系列 |
株式会社ケツト科学研究所
Kett Electric Laboratory
中国区总代理，：