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PCT高壓加速老化試驗箱,又可以叫PCT老化試驗箱或高加速壽命試驗機等多種叫法，它是一種用于模擬高溫高濕環(huán)境下材料或組件的耐久性和穩(wěn)定性的設備。

那么，pct高壓加速老化試驗箱用途是什么呢？本文將介紹有關(guān)于其主要用途和特點：

1.半導體封裝測試：主要用于測試半導體封裝的抗?jié)駳饽芰ΑＴ趪揽恋臏貪穸燃皦毫Νh(huán)境下，濕氣可能會沿著膠體或膠體與導線架的接口滲入封裝體，導致故障。常見的故障原因包括爆米花效應、動金屬化區(qū)域腐蝕造成的斷路、封裝體引腳間因污染造成的短路等。

2.電子元器件測試：適用于IC封裝、半導體、微電子芯片、磁性材料及其他電子零件進行高壓、高溫、飽和濕熱等加速壽命信賴性試驗。

3.材料和組件的耐久性評估：通過模擬高溫高濕的環(huán)境，對芯片等電子元器件進行壓力加熱處理，評估其在惡劣條件下的性能、可靠性和耐久性。

4.加速老化壽命試驗：提高環(huán)境應力（如溫度）與工作應力（施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等），加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。

5.密封性能檢測：廣泛應用于線路板、多層線路板、IC、LCD、磁鐵等產(chǎn)品的密封性能檢測，測試其制品的耐壓性和氣密性。

6.安全保護措施：PCT試驗箱通常配備有誤操作安全裝置、超壓安全保護、超溫保護、防燙傷保護和手動安全保護排壓閥等多重安全保護措施。

7.設計和制造標準：PCT試驗箱內(nèi)膽采用圓弧設計，符合國家安全容器標準，可以防止試驗中結(jié)露滴水現(xiàn)象，從而避免產(chǎn)品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結(jié)果。

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