關鍵詞：普通四探針方阻電阻率測試儀

四探針電阻率測量儀  四探針電阻儀   四探針法測電阻率   四探針方阻測試儀   電阻電阻率測試儀

產品用途：

普通四探針方阻電阻率測試儀適用于生產企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析半導體材料質量的工具；液晶顯示，自動測量和系數(shù)補償，并帶有溫度補償功能，自動轉換量程；采用芯片控制，恒流輸出，選配：PC軟件，保存和打印數(shù)據(jù)，生成報表

用于：覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試等相關產品

儀器特點：

采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語言版本.

技術參數(shù)：