Gigahertz Optik 光譜輻射儀 TFUV10

用于測(cè)量200納米至550納米紫外線LED的總輻射功率的光譜輻射儀

?最-低的雜散光分光輻射儀

?100毫米無(wú)熒光積分球，輔助燈和長(zhǎng)期熒光還原燈

?硫-酸-鋇或ODM，只要你喜歡，我們都提供。兩者都有優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)。

?可選的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)，供用戶重新校準(zhǔn)系統(tǒng)

Gigahertz Optik 光譜輻射儀 TFUV10

測(cè)量UVC LED時(shí)的特殊性

紫外線光輻射（UV輻射）被用于各種任務(wù)中。它可以用來(lái)改變材料的物理特性--輻射固化--或治療皮膚病，如銀屑病。水、空氣和固體表面可通過(guò)紫外線輻射進(jìn)行消毒。各種各樣的氣體和生物分子都可以用紫外線輻射來(lái)檢測(cè)。在紫外線輻射的人工輻射源中，紫外線LED正在成為迄今為止占主導(dǎo)地位的氣體放電燈的一個(gè)重要替代物。盡管紫外線LED的技術(shù)還很年輕，但它正在快速進(jìn)步，特別是在UVB和UVC光譜范圍。測(cè)量紫外光LED總輻射功率的經(jīng)典儀器是帶有積分球的分光輻射儀。

在為紫外LED設(shè)計(jì)積分球分光輻射儀時(shí)，必須考慮到準(zhǔn)單色LED輻射的一個(gè)特殊性。LED的單色紫外線輻射導(dǎo)致積分球涂層的熒光，這導(dǎo)致了傳統(tǒng)校正方法無(wú)法補(bǔ)償?shù)闹卮鬁y(cè)量誤差。Gigahertz-Optik實(shí)驗(yàn)室的研究證實(shí)，硫-酸-鋇涂層和積分球的合成涂層在暴露于紫外線LED<250納米時(shí)都會(huì)發(fā)出熒光。這種熒光是由有機(jī)分子引起的，它隨著時(shí)間的推移沉積在積分球的涂層上。當(dāng)受到紫外線LED輻射<=230納米的刺激時(shí)，熒光的輻射量甚至可以達(dá)到紫外線LED本身的輻射功率的大小。通過(guò)使用足夠的紫外線輻射劑量來(lái)照射有機(jī)分子，可以降低熒光水平。因此，有機(jī)分子被破壞，熒光被降低到計(jì)量檢測(cè)極限以下的數(shù)值。然而，這種措施沒(méi)有持久的效果，因?yàn)轭~外的有機(jī)分子會(huì)隨著時(shí)間積累。

也可參見我們的技術(shù)文章《紫外光LED的無(wú)熒光輻射通量測(cè)量》。

ODM還是硫-酸-鋇？您可以選擇，我們兩種都提供!

進(jìn)一步的研究還表明，硫-酸-鋇涂層的熒光比合成涂層少。此外，在硫-酸-鋇涂層的情況下，熒光的減少有一個(gè)更持久的效果（見技術(shù)文章）。由于這個(gè)原因，與之前的指導(dǎo)方針相反，當(dāng)需要最-低的熒光時(shí)，硫-酸-鋇被推薦作為短波紫外線測(cè)量應(yīng)用的涂層材料。由于Gigahertz-Optik的ODP97硫-酸-鋇涂層中粘合劑的劑量特別低，在永-久性紫外線照射下的長(zhǎng)期穩(wěn)定性話題并不那么關(guān)鍵，因?yàn)榱?酸-鋇本身是紫外線穩(wěn)定的。然而，合成涂層在深度紫外線照射下仍然顯示出更穩(wěn)定的光譜反射特性。因此，涂層的選擇也取決于應(yīng)用。如果重點(diǎn)是穩(wěn)定性，那么ODM將是首-選，如果重點(diǎn)是無(wú)熒光，那么將是硫-酸-鋇。然而，應(yīng)該提到的是，特別是TFUV10測(cè)量系統(tǒng)，由于包括老化燈，即使在ODM的情況下，用戶也能在現(xiàn)場(chǎng)減少熒光，從而提供一個(gè)非常好的通用測(cè)量系統(tǒng)。

通過(guò)TFUV10-V01，Gigahertz-Optik提供了一個(gè)紫外光譜輻射儀，用于測(cè)量UVA、UVB和UVC LED在200nm至550nm光譜范圍內(nèi)的絕對(duì)輻射功率。該儀器提供該應(yīng)用所需的所有特性和功能。

用于測(cè)量輻射通量的積分球

分光輻射儀用于總輻射通量測(cè)量的入口光學(xué)器件是一個(gè)直徑100毫米的積分球，輸入孔徑為25.4毫米。堅(jiān)固的端口框架允許安裝LED組件或可選的2-Pi校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)允許用戶對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行原地重新校準(zhǔn)。輔助燈用于補(bǔ)償由被測(cè)設(shè)備引起的自吸收效應(yīng)。球體涂層使用紫外線輻射進(jìn)行預(yù)老化，這增加了硫-酸-鋇或ODM涂層（均可）對(duì)紫外線輻射的長(zhǎng)期穩(wěn)定性，并將熒光效應(yīng)降低到測(cè)量設(shè)備的檢測(cè)極限以下。為了永-久抑制熒光，另外還有一個(gè)紫外線燈，它能有效地、永-久地抑制250納米以下的紫外線輻射對(duì)熒光的激發(fā)。此外，還有用于空氣流動(dòng)的接口，以減少球體中可能產(chǎn)生的臭氧（通過(guò)非常深的紫外線輻射）。臭氧會(huì)導(dǎo)致球體的特征光譜吸收。

高分辨率光譜輻射儀

BTS2048-UV-2-F是BTS2048系列的一部分，它已經(jīng)在各種苛刻的應(yīng)用中證明了自己，從高速LED分選到室外太陽(yáng)輻射的測(cè)量。此類應(yīng)用需要最高的精度以及連續(xù)使用的可靠性。分光輻射儀直接連接到積分球上，不使用導(dǎo)光板，提供200納米至550納米的光譜范圍，光譜分辨率為1納米。遠(yuǎn)程控制的光學(xué)過(guò)濾器增加了動(dòng)態(tài)范圍。溫度穩(wěn)定的CCD的像素可以被同步地設(shè)置為零。這一特點(diǎn)為測(cè)量脈沖鏈中的單個(gè)脈沖提供了可能。

雜散光和暗信號(hào)

雜散光和暗電平偏移對(duì)采用CCD或CMOS陣列傳感器的紫外光譜輻射儀的測(cè)量結(jié)果有很大影響。

雜散光會(huì)不正確地照亮像素，從而產(chǎn)生不是由所需波長(zhǎng)產(chǎn)生的測(cè)量信號(hào)。  如果雜散光沒(méi)有得到適當(dāng)?shù)囊种?，就不可能將LED的真實(shí)光譜與雜散光效應(yīng)分開。BTS2048-UV-2-F光譜輻射儀通過(guò)集成光阱和光學(xué)過(guò)濾器提供創(chuàng)新的雜散光抑制。

暗信號(hào)的影響來(lái)自于測(cè)量?jī)x器的不同工作溫度和適應(yīng)特定輻照度水平的積分時(shí)間。BTS2048-UV-2-F光譜輻射儀的暗信號(hào)快門用于測(cè)量暗信號(hào)，該信號(hào)用于未來(lái)測(cè)量的暗信號(hào)校正。

數(shù)據(jù)記錄器

BTS2048-UV-2-F由于其高靈敏度、強(qiáng)大的電子裝置和快速接口（USB 2.0和以太網(wǎng)），支持高測(cè)量重復(fù)頻率。它還可以作為數(shù)據(jù)記錄器，記錄時(shí)間性的信號(hào)變化。

一個(gè)完整的軟件包

TFUV10-V01為其預(yù)期用途提供了一個(gè)完整的軟件包。測(cè)量參數(shù)的設(shè)置和測(cè)量數(shù)據(jù)的評(píng)估完-全由附帶的軟件支持。此外，它還允許控制系統(tǒng)的輔助燈。如果使用Gigahertz-Optik公司提供的可選校準(zhǔn)光源之一，用戶也可以使用該軟件對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行重新校準(zhǔn)。

工廠校準(zhǔn)和ISO/IEC/EN 17025測(cè)試測(cè)量

Gigahertz-Optik的測(cè)量實(shí)驗(yàn)室為其TFUV10-V01工廠校準(zhǔn)提供高質(zhì)量和可追溯性。工廠校準(zhǔn)由Gigahertz-Optik的校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室處理，采用適用于NMI認(rèn)可測(cè)試測(cè)量的相同質(zhì)量管理程序?？蛇x擇提供具有ISO/IEC/EN 17025測(cè)試證書的NMI認(rèn)可測(cè)試測(cè)量。

一般

簡(jiǎn)要描述

測(cè)量系統(tǒng)用于測(cè)量波長(zhǎng)范圍為200納米至550納米的紫外LED的光譜輻射功率。完整的測(cè)量系統(tǒng)包括積分球、光譜輻射儀BTS2048-UV-2-F、軟件和校準(zhǔn)。

主要特點(diǎn)

BTS2048系列的高質(zhì)量分光輻射儀，具有高靈敏度和高光譜分辨率，以及快速的數(shù)據(jù)處理速度。直徑100毫米的積分球，紫外線預(yù)處理，具有長(zhǎng)期穩(wěn)定性，在紫外線輻射的激發(fā)下發(fā)出熒光的能力最-低。

測(cè)量范圍

光譜范圍從200納米到550納米。光譜分辨率為1納米。

典型應(yīng)用

紫外線LED制造商，紫外線LED燈具制造商。半導(dǎo)體領(lǐng)域的研究機(jī)構(gòu)和有深度紫外線應(yīng)用的研究機(jī)構(gòu)。對(duì)測(cè)試裝置有需求的計(jì)量機(jī)構(gòu)。

校準(zhǔn)

校準(zhǔn)200納米至550納米的光譜輻射功率靈敏度，有詳細(xì)的工廠證書，包括可追溯性。可選擇NMI認(rèn)可的測(cè)試實(shí)驗(yàn)室的ISO/IEC/EN 17025測(cè)試證書。

光譜檢測(cè)器

光譜范圍

(200 - 550) nm

集成時(shí)間

2 μs - 60 s

光帶寬度

1 nm

像素的數(shù)量

2048

芯片

高靈敏度背薄型CCD芯片，單級(jí)冷卻（1TEC）。

通用型

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整合球體

涂層

硫-酸-鋇或ODM，都可以。

直徑

100 mm

積分球

2Pi，帶輔助燈和額外的老化燈，BTS2048-xx-F版本的端口，用于減少臭氧吸收的空氣流的插頭