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当前位置：深圳市博纳德精密仪器有限公司>>FemtoEasy光束质量分析仪>>光束分析仪>> VSWIR 3.2BeamPro可见短波红外激光光束质量分析仪
Femtoeasy 的 BeamPro SWIR系列是一款光束分析仪，能够以高分辨率测量近红外激光束参数。测量波长范围为900至1700nm ，可以测量小至50μm的光束尺寸。外壳也很小，只有手掌大小，而且坚固，易于操作。 附带的免费软件使光束分析变得简单而直接。
特征
? 高分辨率元件尺寸10μm～
? 最大测量波长900~1700nm
? 大面积测量21 x 17mm
? 用户友好的控制软件
? 紧凑设计
? 兼容C接口
规格参数
| 型号 | VSWIR 3.2 |
| 传感器尺寸 (mm) | 3.2 x 2.6 |
| 传感器格式 | S |
| 1/4" | |
| 光谱范围 (nm) | 400-1700 |
| 分辨率 | 640 x 512 0.3 Mpx |
| 像素尺寸 (μm) | 5.0 |
| 快门类型 | Global |
| 最小光束直径(Φ FWHM， μm)① | 25 |
| 最大采集帧率（fps）② | 139 |
| 最小曝光时间 | 16 µs |
| 最大曝光时间 | 500 ms |
| 动态范围 (dB) | 56 |
| 传感器类型 | InGaAs |
| 位深度 | 12 |
| PC接口 | USB 3.1 |
| 同步 | Yes (witd tde Trigger option) |
| 尺寸 (mm) | 36 x 39 x 46 |
1、最小光束直径的测量精度优于 1%。较小的光束直径也可以测量，但误差会逐渐增大。
2、根据计算类型，帧速率可能会有所不同。
法国FemtoEasy
Femto Easy 专注于推进光子技术，尤其专注于超快激光器。核心使命是简化测量超短脉冲的复杂过程，并充分认识到测量过程中固有的挑战和偶尔出现的挫败感。
除了在超快激光器方面的专业知识外，Femto Easy 还提供各种激光光束分析仪，适用于各种激光器，而不仅限于超快激光器。
VSWIR 3.2 BeamPro可见短波红外激光光束质量分析仪
VSWIR 3.2 BeamPro可见短波红外激光光束质量分析仪
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