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日本传感器的应变极限和疲劳寿命
日本传感器电路的噪声及干扰来源传感器电路很容易接收到外界或内部些无规则的噪声或干扰信号，其实传感器设计的成功与否与干扰设计是分不开的。
1.低频噪声
低频噪声主要是由于内部的导电微粒不连续造成的。特别是碳膜电阻，其碳质材料内部存在许多微小颗粒，颗粒之间是不连续的，在电流流过时，会使电阻的导电率发生变化引起电流的变化，产生类似接触不良的闪爆电弧。另外，晶体管也可能产生相似的爆裂噪声和闪烁噪声，其产生机理与电阻中微粒的不连续性相近，也与晶体管的掺杂程度有关。
2.日本传感器高频热噪声
高频热噪声是由于导电体内部电子的无规则运动产生的。温度越高，电子运动就越激烈。导体内部电子的无规则运动会在其内部形成很多微小的电流波动，因其是无序运动，故它的平均总电流为零，但当它作为个元件(或作为电路的部分)被接入放大电路后，其内部的电流就会被放大成为噪声源，特别是对工作在高频频段内的电路高频热噪声影响尤甚。
3.半导体器件产生的散粒噪声
由于半导体PN结两端势垒区电压的变化引起累积在此区域的电荷数量改变，从而显现出电容效应。当外加正向电压升高时，N区的电子和P区的空穴向耗尽区运动，相当于对电容充电。当正向电压减小时，它又使电子和空穴远离耗尽区，相当于电容放电。当外加反向电压时，耗尽区的变化相反。当电流流经势垒区时，这种变化会引起流过势垒区的电流产生微小波动，从而产生电流噪声。其产生噪声的大小与温度、频带宽度△f成正比。
1．应变极限
应变极限是指在定温度下，应变片的指示应变与试件的真实应变的相对误差达规定值时的真实应变值。
2．疲劳寿命
在恒定幅值的交变力作用下，可以连续工作而不产生疲劳损坏的循环次数N称为应变片的疲劳寿命。缘电阻和zui大工作电流
应变片的缘电阻Rm是指已粘贴的应变片的引线与被测件之间的电阻值。通常要求在50～100MΩ以上。其下降将使测量系统的灵敏度降低。
zui大工作电流,是指已安装的应变片，允许通过敏感栅而不影响其工作特性的zui大电流Imax。工作电流大，输出信号也大，灵敏度高。通常静态测量时取25mA左右，动态测量时取75～100mA。
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