ZJD-B全數(shù)字顯示介電常數(shù)及介質損耗測試儀是根據(jù)GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數(shù)的試驗方法》（等效采用IEC 60250）設計和制造的，并符合JB 7770等試驗方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試。

ZJD-B數(shù)字式介電常數(shù)及介質損耗測試儀讀書清晰,無須換算,操作簡便,特別適合電子元器件的質量分析,品質控制,科研生產(chǎn),也可用于高校的電子信息,電子通信,材料科學等專業(yè)作科研實驗儀器.

技術參數(shù)

信號源頻率范圍	DDS數(shù)字合成 10KHz-60MHz	Q測量范圍	1-1000自動/手動量程
信號源頻率覆蓋比	6000:1	Q分辨率	4位有效數(shù),分辨率0.1
信號源頻率精度	3X10 -5 ±1個字,6位有效數(shù)	Q測量工作誤差	<5%
電感測量范圍	15nH-8.4H,4位有效數(shù),分辨率0.1nH	調諧電容	主電容30-500PF
電感測量誤差	<5%	調諧電容誤差和分辨率	±1.5P或<1%
標準測量頻點	全波段任意頻率下均可測試	Q合格預置范圍	5-1000聲光提示
諧振點搜索	自動掃描	Q量程切換	自動/手動
諧振指針	LCD顯示	LCD顯示參數(shù)	F,L,C,Q,波段等

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