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體積表面電阻率測試儀——影響電阻測量精度的六大關(guān)鍵因素
閱讀：379發(fā)布時間：2025-3-21
影響電阻測量精度的六大關(guān)鍵因素
因素 | 影響機制 | 解決方案 |
測量時間 | 分布電容充電時間達數(shù)十分鐘（例：電纜測試中初始阻值偏低，60s后穩(wěn)定） | 設定定時測量（如GB/T 3048規(guī)定電纜測量時間60s）。 |
重復測量 | 殘余電荷疊加（導致二次測量阻值↑30%以上） | 測量為基準，重復測試需放電≥30分鐘。 |
電壓選擇 | 高電壓激活材料漏電流（1000V比100V測值低50%） | 根據(jù)標準選擇電壓（如IEC 60243規(guī)定絕緣材料測試電壓梯度1kV/mm）。 |
溫度波動 | 半導體反向漏電流隨溫度↑8℃翻倍（硅材料特征）。 | 恒溫實驗室（±1℃），數(shù)據(jù)換算至標稱溫度（如25℃）。 |
濕度干擾 | 表面吸濕（濕度↑60%→表面電阻↓100倍）。 | 預干燥處理（50℃烘箱2h）+實時濕度監(jiān)控。 |
環(huán)境電磁干擾 | 電磁場感應電流（電焊機啟動時噪聲電流達10?1?A） | 雙重屏蔽室、低噪聲同軸電纜（屏蔽層接地阻抗＜1Ω）。 |
北京中航時代儀器設備有限公司主營產(chǎn)品：電壓擊穿試驗儀-介電常數(shù)測試儀
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