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一、三箱式冷热冲击试验箱特点名词解析

　三箱式冷热冲击试验箱适用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA基扳、电子芯片、IC半导体陶瓷及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密IC到重机械的组件，无一不需要它，是理想测试工具.冷热冲击试验机，用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经*温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，可作为其产品改进的依据或参考。

二、三箱式冷热冲击试验箱特点型号与技术参数

JR-WD-50 JR-WD-80 JR-WD-100 JR-WD-150 JR-WD-250 JR-WD-480

内部尺寸 HxD(mm)

50L:360×350×350  80L:500×400×400  100L:600×400×400

150L:600×500×500  250L:700×600×600  480L:800×800×750

外部尺寸HxD(cm)

50L:1560×1750×1440   80L:1700×1800×1440   100L:1800×1800×1440

150L:1800×1900×1540  250L:1900×2000×1640  480L2020×2250×2150

温度范围：低温(B：-40;C：-55;D：-65)~高温+150℃

高温区：+60℃~+200℃

低温区：-10℃~-75℃;

升温时间(蓄热区) ：RT~200℃约需35min

降温时间(蓄冷区) ：RT~-70℃约需85min

温度恢复时间/转换时间： ≤5min内 / ≤10sec内

温度控制精度/分布精度： ±0.5℃ / ±2.0℃

三、参照标准

GB/T2423.1-1989 电工电子产品基本试验规程试验A：低温试验方法

GB/T2423.2-1989电工电子产品基本试验规程试验B：高温试验方法

GJB360.7-87 温度冲击试验

SJ/T10187-91Y73 系列温度变化试验箱—箱式

GJB150.3-86     GJB150.5-86 

GJB150.4-86 电子冷热冲击试验箱，电子产品冷热冲击试验箱，电子产品冷热冲击试验机

四、操作流程

一般来说，三箱式冷热冲击试验箱操作分为五部走：预处理、初始检测、试验、恢复、zui后检测。下面杰瑞设备和大家一起分享一下详细流程内容：

1.预处理：将被测样品放置在正常的试验大气条件下，直至达到温度稳定。

2.初始检测：将被测样品与标准要求对照，符合要求后直接放入三箱式冷热冲击试验箱内即可。

3.试验：

1)试验样品应按标准要求放置在试验箱内,并将试验箱(室)内温度升到点，保持一定的时间至试验样品达到温度稳定，以时间长度为准。

2)高温阶段结束后，在5min内将试验样品转换到已调节到-55℃的低温试验箱(室)内，保持1h或者直至试验样品达到温度稳定，以时间长度为准。

3)低温阶段结束后，在5min内将试验样品转换到已调节到70℃的高温试验箱(室)内，保持1h或者直至试验样品达到温度稳定，以时间长度为准。

4)重复上述实验方法,以完成三个循环周期。根据样件大小与空间大小，时间可能会略有误差。

4. 恢复：试验样品从试验箱内取出后，应在正常的试验大气条件下进行恢复，直至试验样品达到温度稳定。

5.zui后检测：对照标准中的受损程度及其它方法进行检测结果评定。