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日本KE 日本KETT膜厚計,涂層測厚儀 LZ-200J, LZ-200J價格，KETTLZ-200J技術參數(shù)
日本KETT LZ-200J膜厚計/涂層測厚儀采用了磁性和渦流兩種測厚方法。日本KETT LZ-200J膜厚計/涂層測厚儀可無損的測量磁性金屬基體（如鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上的非導電覆層的厚度（如琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。日本KETT LZ-200J膜厚計/ TT LZ-200J膜厚計/涂層測厚儀采用了磁性和渦流兩種測厚方法。日本KETT LZ-200J膜厚計/涂層測厚儀可無損的測量磁性金屬基體（如鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上的非導電覆層的厚度（如琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。日本KETT LZ-200J膜厚計/涂層測厚儀內置打印機，可打印數(shù)據(jù)，有四個統(tǒng)計功能。
日本KETT膜厚計,涂層測厚儀 LZ-200J, LZ-200J價格，KETTLZ-200J技術參數(shù)
| 測定方法 | 電磁式及高頻渦流式 |
| 測定對象 | 磁性金屬上非磁性涂鍍層及非磁性金屬上絕緣層 |
| 測定范圍 | 電磁式：0～1500um或0～60.0mils |
| 高頻式：0～800um或0～32.0mils | |
| 測定精度 | 電磁式：<15um±0.3um >15um±2% |
| 高頻式：<50um±1um >50um±2% | |
| 分辨率 | <100um 0.1um >100um 1um |
| 界限設定 | 可設定上/下限數(shù)值 |
| 測試單位 | 公/英制互換 |
| 顯示方式 | LCD數(shù)顯 |
| 操作面板 | 密封防水按鍵 |
| 附屬品 | 鐵基體/鋁基體/校正標準片/電池/皮套/說明書 |
| 電源 | DV3V 主機5#堿性電池×6個 打印機5#堿性電池×4個 |
| 體積 | 80(W)×80(D)×30(H) |
| 重量 | 1100g |
