微光零位仪
用途及主要特点
微光零位仪采用牛顿反射式系统，主要用于检测白光、微光产品的零位走动量、光轴一致性。
附加分辨率板，亦可测试白光/微光产品的分辨率像质指标。附加红外十字分划板和红外光源，亦可测量红外热像产品的零位走动量。
主要技术指标：
物镜有效口径：φ300mm；
物镜焦距：2000mm；
中心遮挡：φ85mm；
面型：抛物面反射镜；
面型精度：RMS优于λ/40 ，λ=632.8nm。；
零位走动量粗测通过分划板格值测量，最小格值30″，精确测量通过电控测量，最小格值优于1″。