恒溫恒濕試驗箱
   
 內箱尺寸（mm）：W 1000×H 1000 ×D 1000       
       內容積(L)：1000L

觀察窗可視范圍（mm）：W 260×H 350 數(shù)量： 1個

溫度范圍：-20，-40，-60，－70℃～+150℃可自選
濕度范圍：20 %～98 % RH(標準型)
濕度偏差度：±3%RH
溫度波動度：±0.5℃

升溫速率: RT+10℃ ~ +150℃≤45 min  升溫平均2.5~3℃/min

降溫速率: RT+10℃  ~ -70℃ ≤90 min  降溫平均0.8~1℃/min

溫 度 偏 差：-40 ℃～100℃之間±1℃以內/-40 ℃以下；100℃以上±1.5℃以內

執(zhí) 行 標 準：

中國國家標準分為強制性國標（GB）

和推薦性國標（GB/T）

中國國家標準,GB 10586-89濕熱試驗箱技術條件  
中國國家標準,GB 10592-89高、低溫試驗箱技術條件  
中國國家標準,GB/T10589-1989低溫試驗箱技術條件  　  
電工委員會標準,IEC68-2-03_試驗方法Ca_穩(wěn)態(tài)濕熱  
電工委員會標準,IEC68-2-01_試驗方法A_冷  
電工委員會標準,IEC68-2-02_試驗方法B_干熱  
美國軍用標準,MIL-STD-810F-507.4 濕度  
美國軍用標準,MIL-STD-810F-501.4 高溫  
美國軍用標準,MIL-STD-810F-502.4 低溫  
美國軍用標準,MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環(huán)試驗  
美國軍用標準,MIL-STD810D方法502.2  
美國軍用標準,MIL-STD810方法507.2程序3

日本工業(yè)標準,JIS C60068-2-3-1987 試驗Ca:濕熱、穩(wěn)態(tài)  
日本工業(yè)標準,JIS C60068-2-2-1995 試驗B:干熱  
日本工業(yè)標準,JIS C60068-2-1-1995 試驗A:低溫

美國半導體行業(yè)標準,JESD22-A101-B-2004 恒定溫濕度試驗  
美國半導體行業(yè)標準,JESD22-A103-C-2004 高溫儲存試驗

美國半導體行業(yè)標準,JESD22-A119-2004 低溫儲存試驗

中國國家標準,GB/T 2423.1-2001 低溫  
中國國家標準,GB/T 2423.2-2001 高溫  
中國國家標準,GB/T 2423.3-1993 恒定濕熱試驗方法  
中國國家標準,GB2423.34-86 溫濕度組合循環(huán)試驗  
中國國家標準,GB/T2423.4-93方法  

中國國家軍用環(huán)境試驗設備方法,GJB150.9-8 濕熱試驗

艦船電子設備環(huán)境試驗， GJB4-2-83 高溫試驗
艦船電子設備環(huán)境試驗， GJB4-3-83 低溫試驗
艦船電子設備環(huán)境試驗， GJB4-4-83 低溫儲存試驗
艦船電子設備環(huán)境試驗， GJB4-5-83 恒定濕熱試驗
艦船電子設備環(huán)境試驗， GJB4-6-83 交變濕熱試驗

滿 足 標 準：GB/T5170.2-1996           溫度試驗設備       

            GB/T5170.5-1996      濕熱試驗設備

            GB/T2423.1-2001           高低溫濕熱試驗設備

滿 足 標 準：GB-T10589-2008     低溫箱技術條件

            GB-T10586-2006     濕熱箱技術條件

            GB/J545860-2005    高低溫濕熱試驗設備技術條件

★控制系統(tǒng)：高精密度可程序*全彩色觸摸屏 LCD控制器，韓國三元公司TEMI880.

★保 固 期：保修一年.【每年定期免費上門保養(yǎng)四次】

★注意事項：(機器周圍環(huán)境溫度維持在+5~+30℃之間，貴廠自行負責配至機器設備旁邊)

★空氣質量：無高濃度粉塵及腐蝕性氣體，且不能在易燃易爆氣體中試驗和貯存

★電    源：380 V 3相50 HZ  【電壓范圍:不超過±10%】