bruker原子力显微镜，即afm（Atomic Force Microscope）是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器?？梢栽诖笃鸵禾寤肪诚露愿髦植牧虾脱方心擅浊虻奈锢硇灾拾ㄐ蚊步刑讲?，或者直接进行纳米操纵。
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