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详细摘要：出勤管理：实现具有人脸识别功能的乘务员出勤登记、测酒、出勤试问等管理。

详细摘要：HD-5262光纤光谱仪基于110mm光学平台，采用对称光路设计，为3648像素CCD探测器阵列,并且专门针对全光谱测量进行优化 ,适合各种吸收光谱,发射光谱,反射光谱测量,有优秀的信噪比和灵敏度,偏低的价格适合批量二次开发客户和OEM客户。

详细摘要：全数字高斯计/特斯拉计适合要求较高精度，较高分辨率的磁场测试应用.是我们设计制造的较高精度智能化仪器，是集测试，存储，工控，通讯为一体的自动化仪表。

详细摘要：超声波测厚仪是公司是新研发的智能型超声波测厚仪，采用的高性能、低功耗微处理器技术，基于超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可以对材料的声速进行测量。

详细摘要：测量范围：（170-960）HLD,（17-68.5）HRC,（19-651）HB,（80-976）HV,（30-100）HS,（59-85）HRA（13-100）HRB

详细摘要：HD-5251太阳膜透过率测量仪是一款高精度太阳膜测量仪，专业用于测试太阳膜对于紫外线（200nm～380nm），可见光（380nm～760nm）和红外线（760nm～2500nm）的透过率，同时也可用于玻璃等透明物质的测量。

详细摘要：HD-5252太阳膜透过率测量仪是一款太阳膜测量仪，用于测试太阳膜对于紫外线（200nm～380nm），可见光（380nm～760nm）和红外线（760nm～2500nm）的透过率，同时也可用于玻璃等透明物质的测量。

详细摘要：HD-5253的测试原理是采用紫外光源，可见光源和红外光源照射被测透明物质，感应器分别探测三种光源的入射光强和透过被测透明物质后的光强，透过光强与入射光强的比值即为透过率，用百分数表示

详细摘要：HD-5254光学透过率测量仪的测试原理是采用紫外光源，可见光源和红外光源照射被测透明物质，感应器分别探测三种光源的入射光强和透过被测透明物质后的光强，透过光强与入射光强的比值即为透过率，用百分数表示?？梢酝辈馐酝该魑镏实淖贤?，红外，可见光的透

详细摘要：准确度高及反应速度快

详细摘要：HD-5256红外功率计是宽谱线功率测量仪，主要用于测量太阳中红外线的辐射能功率密度，即每平方米的辐射能功率。单位为：瓦/平方米 （W/m2），探测器位于仪器的前端面，使用方便快捷，测量可靠。

详细摘要：HD-5257玻璃厚度仪专用于测量单层玻璃，夹层玻璃（中空玻璃）和柱型玻璃管等的厚度。尤其适用于普通刻度尺或卡尺不能或不易操作的测量场合，如玻璃瓶壁厚和建筑夹层玻璃窗厚度的测量。对于空气夹层玻璃的测量，还可以同时获得各层玻璃及中间空气层的厚度。

详细摘要：HD-5258光纤光谱仪基于70mm光学平台，采用非对称光路设计，为2048 像素 CCD 探测器阵列。光谱仪包括标准 SMA 光纤接头口，准直镜、聚焦镜和衍射光栅。

详细摘要：HD-5259光纤光谱仪基于70mm光学平台，采用非对称光路设计，为3000像素CCD探测器阵列。光谱仪包括标准 SMA 光纤接头口，准直镜、聚焦镜和衍射光栅。

详细摘要：HD-5260光纤光谱仪基于70mm光学平台，采用非对称光路设计，为4000 像素 CCD 探测器阵列。光谱仪包括标准 SMA 光纤接头口，准直镜、聚焦镜和衍射光栅。提供多种不同色散系数和闪耀波长的光栅供用户选择，测量波长范围 340-800nm。

详细摘要：HD-5261光纤光谱仪基于110mm光学平台，采用对称光路设计，为2048像素CCD探测器阵列,并且专门针对可见光谱测量进行优化 ,适合各种吸收光谱,发射光谱,反射光谱测量,有优秀的信噪比和灵敏度,偏低的价格适合批量二次开发客户和OEM客户。

详细摘要：验证转动惯量平移轴定理,水平垂直调节

详细摘要：放大倍数β（0~99）；开关时间Ts（0.01μs~99.9μs）.饱和压降

详细摘要：电压：0--300V±（0.25%读数+0.25%量程）

详细摘要：多路电阻扫描测试仪（6路）采用240*128的点阵液晶屏显示，能对变压器、电机、开关、继电器等各类多路电阻进行同步测试，仪器测量范围0.0001Ω~19.999kΩ，仪器产生高精度恒流经被测件进行四端点测量，有效地扣除了引线误差，适合用户作高精度测量