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产品简介
测试频率20Hz～1MH*有8600个以上的测试频率
详细介绍
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产品概述详细
测试电平10mV～2V，10mv步进
zui高达80次/s的测量速度
六位读数分辨率
内部自带直流偏置源
图形扫描分析功能
内建比较器，10档分选及计数功能
测试频率20Hz～1MH*有8600个以上的测试频率
基本准确度0.1%
320×240点阵大型图形LCD显示
10点列表扫描测试功能
外置偏流源至40A
V、I测试信号电平监视功能
20组内部仪器设定可供储存/读取
多种通讯接口方便用户联机使用
全英文操作界面
LCR测量参数 | C，L，R，Z，Y，X，B，G，D，Q，θ，DCR |
测试频率 | 20Hz～1MHz，10mHz步进 |
测试电平范围 | f≤1MHz |
输出阻抗 | 25Ω50Ω，100Ω |
基本准确度 | 0.1% |
测量速度或测试时间 | 快速：80次/s（f﹥30KHz），100次/s（f﹥1KHz） |
等效电路 | 串联方式，并联方式 |
量程方式 | 自动，保持 |
触发方式 | 内部，手动，外部，总线 |
平均次数 | 1-80 |
清零功能 | 开路/短路扫频清零，负载校准 |
内部直流偏置源 | 电压模式：-5V～+5V，±（10%+10mV），1mV步进，电流模式（内阻为50Ω）：-100mA～+100mA， |
比较器功能 | 十档：（九档合格，一档不合格），另有一个附属档 |
存储器 | 可保存20组仪器设定值 |
接口 | RS232C，HANDLER， |
R、X、Z Y、B、G C L D Q θ（DEG） Δ% DCR | 0.1mΩ～999.999MΩ 0.1nS～99.9999S 0.001pF～999.99mF 0.1nH～9.9999kH 0.0001～99999 0.0001～99999 -90.99°～+90.00° -999.99%-999.99% 0.01mΩ—99.999kΩ |
列表扫描 | 10点列表扫描 |
显示器 | 320×240点阵大型图形LCD |
测试端 | 5端法 |
显示方式 | 直读，ΔABS，Δ%，V/I（电压/电流监示），档号及档计数 |
简要介绍：
高频自动元件分析仪是采用当前的自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器，其0.05%/0.1%的基本精度、20Hz—1MHz的频率范围及高达100MΩ的阻抗测试范围可以满足元件与材料的一切测量要求，特别有利于测量低D电容器和高Q电感器的测量。其支持20V交流测试信号和40A直流偏置的高功率测试条件及列表扫描功能将有利于用户扩展元件评价的能力。四端对的端口配置方式可有效消除测试线电磁耦合的影响，将低阻抗测试能力的下限比常规五端配置的仪器向下扩展了十倍。
高频自动元件分析仪是电子元件设计、检验、质量控制和生产测试的强有力工具。它的优良性能和功能为电路的设计和开发以及材料（电子材料和非电子材料）的研究和开发提供了强有力的工具。计算机通讯及测试过程记录提供了条件。
广泛的测量对象：
无源元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数测量。
半导体元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数测量。
其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估。
介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数的损耗角评估。
磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估。
半导体材料：半导体材料的介电常数，导电率和C-V特性。
液晶材料：液晶单元的介电子常数、弹性常数等C-V特性。
多种元件、材料特性测量能力
揭示电感器件的多种特性
高频自动元件分析仪的性能和20Hz-1MHz的测试频宽可以地分析磁性材料、电感器件的性能
使用10301选件的100mADC的偏置电流可以测量高频电感器件、通讯变压器，滤波器的小电流叠加性能。使用1775电流叠加装置，可使偏置电流达40A以分析高功率、大电流电感器件。
的陶瓷电容测量1kHz和1MHz是陶瓷材料和电容器的主要测试频率。陶瓷电容器具有低损耗值的特征，同时其容量、损耗施加之交流信号会产生明显的变化。仪器具有宽频测试能力并可提供良好的准确度，六位分辨率和自动电平控制（ALC）功能等，中以满足陶瓷材料和电容器可靠、准确的测试需要。
液晶单元的电容特性测量
电容－电压（C－Vac）特性是评价液晶材料性能的主要方法，常规仪器测量液晶单元的C－Vac特性遇到一个问题是zui大测试电压不够。使用选件可提供分辨率为1%及zui高达20Vms的可编程测试信号电平，使它能在*条件下进行液晶材料的电容特性测量。
半导体材料和元件的测量
进行MOS型半导体制造工艺评价时，需要氧化层电容和衬底杂质密度这些参数，这些可从C－Vdc特性的测量结果推导出来。
20HZ－1MHz的测量频宽及高达40VDC的可编程偏置电压方可方便地完成C-VDC特性的测量。
为了测试晶圆上的半导体器件，需要延伸电缆和探头，仪器的2m/4m延伸电缆选件可将电缆延伸的误差降至zui小。各种二极管、三机管、MOS管的分布电窜也是本仪器的测试内容。
适应多种领域的测试需要提高生产效率
高频自动元件分析仪30次/秒的测试速度可满足大多数生产场合高效测试的需要，从而提高生产厂的产能。内建比较器、电缆长度补偿、Handler接口可方便地用于自动测试系统。
应用广泛的品质检验手段
仪器具备的20Hz-1MHz的频宽及5mVms-20ms的信号电平范围可满足绝大多数元件的检测需要。
10301及1775的配置解决了器件直流偏置测量的要求。提供径向、轴向、SMD元件的多种测试夹具配置。
用户友好的操作界面简化的前面板操作仪器配置的320x240点阵的LCD显示器使操作者可清晰地观察测量结果，各种设定状态一目了然，交互式软键大大简化了仪器操作。
非易失性存储器以保存多种仪器设置
高频自动元件分析仪提供有内部非易失性存储器可保存20组仪器测量设置，
灵活的数据通讯方式
高频自动元件分析仪为多机通讯并组成自动测试系统提供了可能，同时，
仪器还提供了低成本的RS232C串行通讯方式以方便地与计算机进行远程通讯。
比较器功能 | |||
比较器 | 测量的参数值可以分选为10档 | ||
计数值 | 0—999999 | ||
列表扫描比较 | 扫描列表中的每个点都可以输出HIGH/IN/LOW信号 | ||
输入?；?/span> | |||
当充电的电容连上测试端时，内部保护电路工作。zui大可以?；さ牡缛莸缪箍梢杂上率酵瞥觯?br />where：Vmax≤200VCisinFarads | |||
其他功能 | |||
存储功能 | 外部非易失存储器可以保存20个仪器的设置文件 | ||
RS232C | 所有的仪器控制参数，测量值，比较值和扫描列表都可以通过RS232C实现多机通讯或对PC通讯。 | ||
选件 | |||
10301 | 功率放大/直流偏置增加交流信号到20Vrms/0.2Arms.扩展直流偏置范围到±40VDC. | ||
10401 | 2m/4m测试线选件扩展测试线的长度，增加2m或4m。 | ||
10202 | Handler接口输入的9对上下限值可以分选10档的L、C或|Z|值。 | ||
准确度（细节请查看操作手册） | |||
测试环境 | 热机时间 | ≥30分钟 | |
环境温度 | 23±5ºC | ||
测试信号电平 | 0.3Vrms–1Vrms | ||
清零 | 开路和短路 | ||
测试线长度 | 0m | ||
|Z|，|Y|，L，C，R，X，G，B | ±[A+（Ka+Kb+Kc）×100]（%ofreading） | ||
D | ±[Ae/100]（D的值） | ||
Q（WhenQx×De<0.1） | 当，Qx符合Qvalue时De是D的度 | ||
θ | DEG | ±[Ae/100]（degress值） | |
RAD | ±[（180/π）×（Ae/100）]（degress值） | ||
工作温度：0℃—40℃
湿度≤90%RH
电源要求：198V—242VAC、99V-121VAC、47.5Hz—63Hz
功耗：≤100VA
尺寸（W×H×D）：430mm×185mm×300mm
重量：8.5kgApprox