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产品简介
仪器所有参数设定、功能转换全部采用一旋钮输入；具有零位、满度自校功能；自动转换量程；测试探头采用高耐磨碳化钨探针制成，故定位准确、游移率小、寿命长；测试结果由数字表头直接显示。
详细介绍
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产品概述详细
详细资料：
一、概述
数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻（简称方阻），换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。
本测试仪可赠设电池供电，适合手持式变动场合操作！
仪器所有参数设定、功能转换全部采用一旋钮输入；具有零位、满度自校功能；自动转换量程；测试探头采用高耐磨碳化钨探针制成，故定位准确、游移率小、寿命长；测试结果由数字表头直接显示。
二、基本技术参数
1.测量范围、分辨率
电阻：1.0×10-2～2000Ω,分辨率0.1×10-3～0.1×10Ω
电阻率：1.0×10-3～2000Ω-cm分辨率0.1×10-2～0.1Ω-cm
方块电阻：1.0×10-3～2000Ω/□分辨率1.0×10-1～0.1×10Ω/□
2.可测半导体材料尺寸（手持式）
直径：测试台直接测试方式Φ15～130mm，其他方式不限.
长（或高）度：测试台直接测试方式H≤160mm,其他方式不限.
3.量程划分及误差等级
量程
2.000
200.0
20.00
2.000
200.0
kΩ-cm/□
Ω-cm/□
mΩ-cm/□
基本误差
±1%FSB±2LSB
±1.5%FSB
±4LSB
4）适配器工作电源：220V±10％,f=50Hz±4％,PW≤5W，或电池供电
5）外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm
净重：≤0.5kg