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產品簡介
硅料分選檢驗綜合儀是我公司一款專門為拉單晶廠和多晶鑄錠廠商硅料分選、檢驗、檢測而設計研發(fā)的。它可以快速準確測量硅料的電阻率?？梢詸z測所有類型的硅料：母合金摻雜濟電阻率檢測可以到0.0001-999.99Ω·㎝，及各種碎片料、米粒料、片料，塊料，頭尾料、堝底料、邊皮料等等。
詳細介紹
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產品概述詳細
詳細資料：
一、產品介紹
硅料分選檢驗綜合儀是我公司一款專門為拉單晶廠和多晶鑄錠廠商硅料分選、檢驗、檢測而設計研發(fā)的。它可以快速準確測量硅料的電阻率?？梢詸z測所有類型的硅料：母合金摻雜濟電阻率檢測可以到0.0001-999.99Ω·㎝，及各種碎片料、米粒料、片料，塊料，頭尾料、堝底料、邊皮料等等。
二、產品特點
■電阻率測量：大屏幕清晰顯示硅料電阻率值，方便檢料工快速分選。
■電流測量：本儀器采用芯片技術，可通過調節(jié)硅材料厚度，儀器可直接鎖定電流，使測量使用更加簡便準確，本儀器可根據需要配備測試平臺，利用測試平臺可以測試薄片電阻率。
■四探針：一次測量，顯示完整電阻率值。
■采用了*的恒流源技術，能夠滿足寬范圍的電阻率測試要求
三、技術指標
■高阻電阻率量程：0.01~999.99Ω·㎝
低阻電阻率量程：0.0001~0.01Ω·㎝
■高阻測量精度：到百分位（即到小數點后二位）
低阻測量精度：到千分位（即到小數點后四位）
注：低阻一般用于測量低于0.10Ω·㎝以下硅料，如母合金，高于0.10Ω·㎝一般用高阻測量。
四、使用方法
1、連接好測試探頭電纜與主機，接上電源。
2、低阻測量開關打向左，高阻測量打向右。
3、調節(jié)厚度，按‘+’、‘-’調節(jié)，數值為3.98mm。厚度超過3.98mm以3.98mm為準。
4、用四探針接觸硅材料，以探針壓下三分之二為準，待儀器顯示數字穩(wěn)定即可。低阻為左邊顯示屏，高阻為右邊顯示屏。單位為Ω·cm。
五、測試四探針筆
一般情況下，更換鋼針之類，不需要拆開探頭，只需要用拔出要更換的鋼針，再重新安裝新針，如果斷針在孔內并且不拆開難以取出，須按照以下步驟進行操作：
A、先松開筆身尾部端側面的固定小螺絲，輕輕脫下尾部行空插口，保證探針頭部旋轉時同步旋轉，防止扭線斷線，短接。
B、輕輕擰開探針頭子，然后小心將銅片拉出，記住七片絕緣片與銅片之間的位置，（四片銅片每片間夾一片絕緣片，兩邊的銅片外側各兩片），將斷針從銅片卡口座里取下即可。
C、特別注意一定不能將銅片取下時的位置錯亂，銅片位置按照行空頭四芯1、2、3、4接線綠、紅、黃、黑的順序一字排列，并且銅片之間按照寬窄順序互相交叉排列，以免短接。
D、安裝時銅片及絕緣片按照拆下時的排列輕輕塞進探針頭子，并先將探針頭子擰緊，再將尾部行空頭插上，并且旋緊小螺絲。
E、將針裝好，注意針頭針尾方向，尖頭為探針頭部。
六、注意事項
1儀器操作前請您仔細閱讀使用說明書，規(guī)范操作。
2輕拿輕放，避免儀器震動，水平放置，垂直測量。
3儀器不使用時請切斷電源，連接線無需經常拔下，避免灰塵進入行空插頭引起短接等現象。
4探針筆測試結束，套好護套，避免人為斷針。