Agilent 4291B 射频阻抗/材料分析仪
4个元件测试夹具（被测件尺寸：0.5 mm至20 mm）
独立选择2个通道的参数
直接读取介电常数、导磁率（选件）
2个材料夹具（工作温度：-55至+200摄氏度）
多功能分析（温度、科尔-科尔图表、松弛时间）
扫描参数（频率、交流电平、直流偏置、温度）

 Agilent  4291B  射频阻抗/材料分析仪

• 4个元件测试夹具（被测件尺寸：0.5 mm至20 mm）
• 独立选择2个通道的参数
• 直接读取介电常数、导磁率（选件）
• 2个材料夹具（工作温度：-55至+200摄氏度）
• 多功能分析（温度、科尔-科尔图表、松弛时间）
• 扫描参数（频率、交流电平、直流偏置、温度）

描述

Agilent 4291B射频阻抗/材料分析仪是针对表面封装元器件和介电/磁性材料的高精度测量的完整解决方案。与反射测量技术不同，Agilent 4291B使用直接的电流－电压测量技术，可在广泛的阻抗范围内提供更精确的阻抗测量结果。

基本阻抗精度是+/- 0.8%。高Q精度有利于进行低损耗元器件分析。内置合成器扫频范围从1 MHz到1.8 GHz，具有1 MHz的分辨率。1.8米长的精密电缆可将分析仪连接到测试站，以便您将测试点延伸到分析仪之外，而不会影响测量精度。*进的矩阵和错误补偿功能消除了夹具的测量错误，确保DUT/MUT的高精度和可重复性。

Agilent 4291B还提供自动电平精度控制和用IBASIC程序功能监视测试信号；可在恒压或恒流下测量器件。用可选的直流偏置（达40V和100mA）使测量偏置独立于阻抗特性。只要按一个按钮，内装的等效电路分析功能就自动计算5种电路模型的电路常数值。

Agilent 4291B有2个测量通道；每一个通道都可设置为测量1个（即Z）或2个（即Z-theta）阻抗参数。具有分割显示的彩色TFT可显示有效示踪和存储器示踪（保存在RAM中）。内部软盘驱动器以LIF或MS-DOS格式保存程序和测试数据。有了内装IBASIC，您就能从Agilent 4291B直接控制恒温箱或园片探测器这类外部测试设备，而不需要单独的仪器控制器。

材料评估

Agilent 4291B能容易地进行全面的材料评估，提高材料评估的质量和效率。Agilent 4291B提供宽频率范围（1MHz至1GHz）介电/磁性材料测量的总体解决方案。

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陈丙州   
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