真空介電常數(shù)測試儀定義

閱讀：2026發(fā)布時間：2015-3-2

介電常數(shù)測試儀 GDAT-A

介電常數(shù)(Absolute dielectric constant)，又稱真空介電常數(shù)（Vacuum permittivity，是一個物理常數(shù)，符號為ε0。它將時間、長度、質(zhì)量等力學量與電學量起來（如庫倫定律）。真空介電常數(shù)在單位制下的值為：

ε0=8.85*10^-12 法拉/米

基于串聯(lián)諧振原理的《GDAT高頻Q表》是測試系統(tǒng)的二次儀表，其數(shù)碼化主調(diào)電容器的創(chuàng)新設計代表了行業(yè)的zui高成就，隨之帶來了頻率、電容雙掃描GDAT的全新搜索功能。

該表具有*人機界面，采用LCD液晶屏顯示各測量因子：Q值、電感L、主調(diào)電容器C、測試頻率F、諧振趨勢指針等。

高頻信源采用直接數(shù)字合成,測試頻率10KHz-60MH或200KHz-160MHz，頻率精度高達1×10-6。國標GB/T 1409-2006規(guī)定了用Q表法來測定電工材料高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)，把被測材料作為平板電容的介質(zhì)，與輔助電感等構成串聯(lián)諧振因子引入Q表的測試回路，以獲取zui高的測試靈敏度。

因而Q表法的測試結果更真實地反映了介質(zhì)在高頻工作狀態(tài)下的特征。

主要技術特性：介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質(zhì)，通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε)，可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定，標準頻率測試點自動設定，諧振點自動搜索，Q值量程自動轉換，數(shù)值顯示等新技術，改進了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至zui低，并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術，使得新儀器在使用時更為方便，測量值更為。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。

標簽：

介電常數(shù)測試儀

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀

介電常數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀

高頻介電常數(shù)測試儀

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