UPA标准片膜厚校正片

XRF-2000镀层测厚仪标准片

品牌：Micrp Pioneer

应用：适合各种品牌X射线镀层测厚仪

X射线测厚仪镀层标准片一般分为单镀层片，双镀层片、多镀层片、合金镀层片、化学镀层片。例如：单镀层：Ag/xx，双镀层：Au/Ni/xx， 三镀层：Au/Pd/Ni/xx，合金镀层：Sn-Pb/xx， 化学镀层：Ni-P/xx。（所有标准片都附有NIST证书）

可以根据客户不同的金属元素、镀层结构及镀层厚度等要求向美国工厂定做合格的标准片，并附有标准片厚度值NIST证书. 

测厚仪标准片又名膜厚仪校准片，镀层标准片或者薄膜片，专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的仪器标准化校准及建立测量分析档案。

X射线镀层测厚仪标准片,校正片,膜厚片

应用于测厚仪校正及应用程序添加

XRF-2000测厚仪标准片：金,镍,铜,锌,铬,锡,银,锌镍合金等

各镀种标片及范围通用于所有品牌测厚仪

标准片均附带证书

X射线镀层测厚仪标准片,校正片,膜厚片

适合各种X射线镀层测厚仪

测厚仪标准片又名膜厚仪校准片，专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法，是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。以此标准曲线来测量镀层样品，以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。 

测厚仪标准片又名膜厚仪校准片，专业用于X射线测厚仪在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法，是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。以此标准曲线来测量镀层样品，以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。 
 

韩国MicroPioneerXRF-2020提供金,镍,铜,锌,铬,锡,银,锌镍合金等标准片

各种规格及厚度范围匀可订制。

X射线镀层测厚仪标准片,校正片,膜厚片：

应用于X-RAY膜厚仪测量程序校正及添加

 X光测

XRF-2000镀层测厚仪标准片:所有X射线测厚仪通用

铜，镍，锌，铬，金，锡，银，锌镍合金:各种规格厚度标准片均有

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