Micropioneer XRF-2000L膜厚测试仪

韩国微先锋系列

功能及应用:快速无损测量电镀层厚度

可测单镀层，双镀层，多镀层及合金镀层

仪器规格

XRF-2020L型:测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg

XRF-2020H型:测量样品长宽55cm,高10cm:台载重5kg

仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量

多个准直器可选择：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm

可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换

测量原理：

物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。

Micropioneer XRF-2000L测厚仪

功能及应用:快速无损测量电镀层厚度

可测单镀层，双镀层，多镀层及合金镀层

测量镀金，镀银，镀锡，镀银，镀镍，镀铜，镀铬，镀锌镍合金等！

Micropioneer XRF-2000L膜厚测试仪