韓國(guó)XRF-2000X射線測(cè)厚儀精度

韓國(guó)XRF-2000X射線測(cè)厚儀精度

*層：±5%以?xún)?nèi)

第二層：±8%以?xún)?nèi)

第三層：±15%以?xún)?nèi)

韓國(guó)XRF-2000X射線測(cè)厚儀測(cè)試范圍   

Au  0.03-6um

Pd  0.03-6um

Ni  0.5-30um

Ni-P 0.5-30um

Sn 0.3-50um

Ag  0.1-50um

Cr  0.5-30um

Zn  0.5-30um

ZnNi 0.5-30um

SnCu 0.5-30um

韓國(guó)XRF-2000測(cè)厚儀配置

全自動(dòng)臺(tái)面

自動(dòng)雷射對(duì)焦

多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量 (方便操作人員準(zhǔn)確快捷檢測(cè)樣品）

測(cè)量樣品高度3cm 10cm 15cm 20cm 以?xún)?nèi)四種規(guī)格可選

測(cè)量樣品長(zhǎng)寬均為55cm

可測(cè)試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度

每層鍍層都可分開(kāi)顯示各自厚度.

測(cè)量時(shí)間：10－30秒

韓國(guó)XRF-2000X射線測(cè)厚儀精度:顯示小數(shù)點(diǎn)后三位