污垢熱阻測(cè)試儀  污垢熱阻測(cè)試儀 型號(hào)：HAD-WGRZ-I

產(chǎn)品說明：

特性:
1.采用的RISC 32位ARM處理器,比8位單片機(jī)處理速度快幾十倍,從而采樣次數(shù)更高,更準(zhǔn).
2.內(nèi)裝圖形操作系統(tǒng),操作人性化,便于學(xué)習(xí).
3.采用藍(lán)色大屏幕液晶(240*128),可實(shí)現(xiàn)場(chǎng)查詢數(shù)據(jù),顯示曲線圖,從而可預(yù)測(cè)污垢熱阻趨勢(shì).
4.控采用軟PID能對(duì)流量或蒸汽進(jìn)行的自動(dòng)控制(也可手工設(shè)定流量或蒸汽為定值).
5.可直接接入PT100,4-20ma,和脈沖信號(hào).
6.污垢熱阻值以4-20ma輸出,所有量(進(jìn)出口溫度、蒸汽溫度、流量、沉積速率、污垢熱阻,可由 RS-232口讀出)
7.內(nèi)部參數(shù)設(shè)置可全面設(shè)置換熱器的參數(shù),從而測(cè)量精度高.
8.大容量存儲(chǔ)器,可連續(xù)測(cè)量和可存儲(chǔ)15個(gè)月數(shù)據(jù),不怕掉電(建議每12個(gè)月把儀表數(shù)據(jù)下載到PC機(jī)存儲(chǔ))
9.上位配有功能強(qiáng)大的配套軟件(可從我們上下載),該軟件用VC++,C#.net開發(fā),通過使用Kern-Seaton方程式及其修正式的軌跡,從而通過對(duì)長時(shí)間的(如1年)瞬時(shí)污垢得到較長時(shí)間污垢熱阻值的估算,繪出曲線圖和報(bào)表打印(運(yùn)用強(qiáng)大的水晶報(bào)表功能crystal?report).
10.具有報(bào)警功能,顯示等.
11.各個(gè)?？於歼M(jìn)行了光耦隔,所以具有很強(qiáng)的抗干擾能力.
12.具上傳PLC,DCS的功能.
13.符合EMI標(biāo)準(zhǔn).

主要性能指標(biāo)：
1．污垢熱阻顯示誤差±0.1%
2．測(cè)溫范圍０～150℃(可定制)?
3．測(cè)溫分辨率±0.05℃
4．控溫精度(或流量) 0.5%　　　　
5．工作溫度0 ~ 60℃ 相對(duì)濕度20 ~80℅
6．工作電壓 220V 10℅ 50Hz
7．功率消耗低于20瓦
8．體積150×150×160立方毫米9．儀器重小于3千克

電極安裝說明：電極說明.doc