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ZDS3000/2000C系列通用研发型示波器

通用研发型示波器通过“异常触发 - 大数据捕获 - 参数测量 - 波形搜索 -找到问题"的数据分析流程，帮助电子工程师迅速完成产品测试。

ZDS3000/2000C系列通用研发型示波器

250M存储深度

如果存储深度能够做到足够大，就能保持较高的波形采样率，则观察到的波形会更加真实、细腻。反之，如果存储深度只有1Mpts甚至更低，当要观察时长较大的波形时，示波器就只能被迫降低采样率。由于采样点数不足，示波器显示的波形也会严重失真，甚至产生波形混叠，误导用户测量分析。ZDS3000/2000C系列示波器创新性地采用DDR3存储技术，配合大规模的FPGA器件，通过全硬件加速和多线程并行处理，存储深度最高可达250M ！在观察长时间波形时也不丢失波形细节。

协议解码

在调试协议信号的时候，不仅需要观测协议波形，还要将波形解码成对应的数据。但一直以来各个品牌示波器的协议解码功能都要付费选配的，而且只有寥寥几种。ZDS3000/2000B系列示波器基于客户需求免费配备了41/29种协议解码，CAN、LIN、IIC、SPI、UART、USB、PS/2、DALI、Wiegand、1-Wire、DS18B20、HDQ、 SD_SPI、SD_SD、IrDA、Manchester、DiffManche、Miller、DHT11、 SHT11、 NEC、RC5、RC6、FlexRay等，除此之外，ZDS3000/2000B系列示波器还免费配备了CAN FD协议解码，再一次定义了200M示波器！

33万次/秒波形刷新率

由于波形合成器的实时处理能力和波形显存的吞吐带宽的技术限制，2000系列示波器的波形刷新率一般很低，波形观测存在大量的死区时间，用户也会因此错过了许多波形细节，大大降低了工作效率。ZDS3000/2000B系列示波器研发团队采用大规模FPGA，突破各个技术难点，每一行代码都尝试不同的实现方式，以寻求较佳效果。从刚开始的75K到150K、260K至最终的330K，不断地突破自我、精益求精。更高的波形刷新率能够让用户快速发现异常信号，大幅提高工作效率。

模板触发

工程师在调试产品的时候，经?；嵊龅揭恍┠岩圆痘竦男藕?。在对信号特性不了解的情况下，我们能否通过一种简单易用的方法将其捕获呢？研发团队在示波器强大的触发功能基础上，添加了模板触发功能。通过触碰过滤原理，实现了可以隔离了任何规律的异常信号的功能。使测试变得简单，有趣。

4Mpts FFT分析

市面上多数2000系列示波器最大只支持8K样本点的FFT分析，在1G采样率的情况下，频率分辨率仅有125KHz，多数情况都无法准确判断信号频谱分布。ZDS3000/2000B系列示波器拒绝单纯的功能堆砌，内部采用了专业的处理芯片，突破技术壁垒，将FFT分析点数升级至4M样本点，同样在1G采样率的情况下频率分辨率能精确到250Hz，可以准确分析出电路中的干扰噪声来源，大大提高了示波器FFT的实用价值。4Mpts FFT分析功能，不仅仅是在量上突破，而且还是在质上的飞跃。

支持50余种参数自动测量

仅仅通过波形的直观表现来分析波形远远不够，只有将波形各项指标精确量化，才能看透波形异常的本质。然而受限于架构和芯片限制，绝大多数示波器的参数测量都是基于采样结果进行抽点，无论屏幕中有多少个信号周期，都仅仅抽取每屏中的一个周期信号进行统计测量，这也直接导致了结果的严重失真。为了实现意义的参数测量统计，我们采用FPGA进行全硬件加速，通过对屏幕上每一个周期信号的测量，计算出每一项指标的最大值，最小值，平均值，标准差，实现了意义参数测量功能，并且多达50余种。

波形搜索功能

在调试信号波形时，我们需要明确信号是否出现了异常。如果出现了异常，那这些异常信号出现的频率是多少，是不是周期性出现的呢？为了弄清楚这些问题，一般需要长时间记录波形，然后基于这样一个庞大的波形数据库去定位异常波形出现的位置。ZDS3000/2000B系列示波器依托于海量存储和硬件加速的优势，能够从数十万个波形中迅速定位出感兴趣的信号，只要当前屏幕内出现了符合搜索条件的波形信号，系统都将自动地在对应位置做上标记，异常信号一览无余。

环路测试

致远电子ZDS3000系列示波器支持环路测试分析软件。相对于几十万的专业环路分析仪器，内嵌的环路测试分析软件不仅有完善的环路测试方法和精准的测量精度， 并且对测试操作和用户体验进行了创新性地设计。

电源分析

开关电源的质量直接影响到产品的技术性能以及其安全性和可靠性。电源测试项目多，计算量大，统计繁琐等问题一直困扰着工程师们，为了解决这些问题，致远电子在示波器中增加开关损耗、SOA、电感测试等电源分析功能。如在电感测试功能中可直接对电感、有功功率等项目进行计算，方便工程师快速、准确地测试电源产品。

开关损耗一键测量

PFC MOS管开关损耗测试是电源调试中的难点，由于不同周期的电压和电流波形都不相同，功率损耗的准确评估也更依赖长时间高采样率的波形捕获，因此存储深度和功率损耗运算原始点数成为开关损耗准确与否的关键。ZDS3024示波器标配250M存储深度，并通过全硬件加速处理优化，可精准量化开关器件的功率损耗。

SOA安全工作区测试

开关器件长期承受较大功耗，一但过压或过流就可能会导致器件损坏甚至爆炸。虽然器件手册中明确标注了IDM和VDS各项参数，但常规调试手段无法对器件的整个工作周期进行评估。通过ZDS3024定制的SOA安全工作区测量功能，可以准确评估整个工作周期内开关器件的所有状态，明确给出电源超出安全工作区的异常概率，便于工程师更好的评估电源工作稳定性。