CST-50沖擊試樣缺口夏比投影儀

壹、CST-50沖擊試樣缺口夏比投影儀用途與特點(diǎn)：

　   CST-50沖擊試樣缺口夏比投影儀是于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器。
　　CST-50沖擊試樣缺口夏比投影儀是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V或U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對(duì)，以確定被檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格，操作簡(jiǎn)便，檢查對(duì)比直觀、效率高，是目前*切實(shí)可行、并能保證檢查質(zhì)量的方法，是相關(guān)理化試驗(yàn)室的*儀器。

    CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我們根據(jù)目前國(guó)內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-2007《金屬夏比擺錘沖擊試驗(yàn)方法》中沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開(kāi)發(fā)的壹種于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上，與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對(duì)，以確定被檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格，其優(yōu)點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便，檢查對(duì)比直觀，效率高。

二、CST-50沖擊試樣缺口夏比投影儀主要技術(shù)參數(shù)：

1. 放大倍數(shù)：50×；
2. 投影屏尺寸：ф200mm;
3. 工作臺(tái)位移：縱向±10mm，橫向±10mm，升降±12mm(無(wú)刻度)；
4. 工作臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍：0～360о（無(wú)刻度）；
5. 光源：鹵鎢燈12V 100W;
6. 電源：200V 50HZ 150W;
7. 外形尺寸：515×224×603mm;
8. 重量： 約18kg。

CST-50沖擊試樣缺口夏比投影儀*價(jià)

質(zhì)保期限：免費(fèi)質(zhì)保壹年，終身售后！
服務(wù)承諾：*服務(wù)，隨時(shí)隨地與您同步！