DENS Lightning TEM 原位熱電方案

01 產(chǎn)品概況

Lightning TEM 原位熱電方案是為了幫助研究人員在精確控制加電和加熱環(huán)境的同時觀察樣品變化的實時動態(tài)過程，擴展了在TEM中的應(yīng)用范圍。搭配的 Lightning Nano-chip 芯片能夠提供最高精度控制樣品偏壓和加熱環(huán)境的能力，能在 900℃ 高溫下同時實現(xiàn)高于300kV/cm 的電場，芯片擁有多種配置，能夠滿足不同的實驗要求，并都能保證 TEM 的原子級分辨率成像能力，同時創(chuàng)建了最為真實的應(yīng)用環(huán)境。在進行熱學(xué)研究的同時，在 pA 電流靈敏度下完成 I-V 測試，為原位實驗研究提供了全新的觀察視角。

02 產(chǎn)品特點

03. 案例分享

下圖是在 800℃ 的條件下，我們對樣品進行加電實驗，觀察樣品核殼納米材料在 HRTEM 下顯示的結(jié)構(gòu)變化，并且此時電壓可以達到高值。樣品桿具有高穩(wěn)定性，即便在最高溫度和電場環(huán)境下，也能實現(xiàn)常規(guī)的原子分辨率成像。

04 應(yīng)用領(lǐng)域

05 原位實驗技術(shù)簡介

透射電子顯微鏡（TEM）一直是觀察微觀世界的有力工具。尤其是球差矯正器的出現(xiàn)，科學(xué)家已經(jīng)可以實現(xiàn)在原子尺度上對材料的化學(xué)結(jié)構(gòu)進行表征成像。此外，TEM 的進步也帶動了 CCD 相機的發(fā)展，這樣，TEM 就同時具有優(yōu)異的空間分辨率和時間分辨率，那么時間和空間的結(jié)合，是否可以讓 TEM 動起來？

眾所皆知，TEM 需要在高真空條件下表征靜止狀態(tài)下的樣品，但這不足以反映材料在真實環(huán)境下的微觀結(jié)構(gòu)。為此，荷蘭 DENSsolutions 公司多位科學(xué)家利用最新的 MEMS 技術(shù)，設(shè)計出的納米芯片，據(jù)此可以向 TEM 中引入動態(tài)外界刺激條件，模擬樣品在真實環(huán)境下的狀態(tài)，打破壓力的限制，記錄樣品的動態(tài)變化過程，讓 TEM真正的實現(xiàn)動起來。

荷蘭 DENSsolutions 公司為透射電鏡提供技術(shù)先進的、納米尺度的原位顯微工具，其產(chǎn)品可以為原位 TEM 樣品施加外界刺激，捕捉 TEM 樣品在真實環(huán)境下的動態(tài)現(xiàn)象。目前，已經(jīng)可以在 TEM 中引入氣、液、熱、電等多種狀態(tài)。

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