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产品简介
15JE测量显微镜：直角坐标中测定长度，例如测定孔距，基面距离，刻线宽度，键槽宽度，狭缝宽度，通孔外圆直径等等。2.转动度盘测定角度，例如对刻度盘，样板、量规，钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。
详细介绍
http://www.cylcaiwu.com/st232510/Index.html
15JE测量显微镜技术规格：
1、物镜
放大倍数：2.5X/0.08、 10X/0.25
焦距（mm）:43.40、17.13
2、目镜
放大倍数：10X
焦距（mm）:5.00
3、显微镜放大倍数：25X、100X
工作距离（mm）：58.84、7.81
视场直径（mm）:5.6、1.4
4、测量工作台读数装置主要规格
X——轴移动测量范围：50mm
Y——轴移动测量范围：13mm
测微器分度值：0.001mm
测量台转动范围：不限
测量台刻度盘分度范围：0?-360?
测量台刻度盘之分度值：1?
测量台刻度盘游标读数示值：6’
5、测量精度：
仪器示值误差±（5+L/15）微米
仪器示值误差：包括测量误差与仪器系统误差。
注：测量地点温度变化（20?±3?）C
L——被测件长度（mm）
6、仪器之主要尺寸：
测量台与物镜间之zui大距离：80mm
测量工作台直径：120mm
仪器外形尺寸：高325*长262*宽220mm
仪器重量约：10.6公斤
7、光源：自然光
15JE测量显微镜选购件：
40倍平场物镜
上海销售公司 北京销售公司
： 55228660 ： 84021761
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