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如何正確操作使用CM30涂層測(cè)厚儀
如何正確操作使用CM30涂層測(cè)厚儀
握住探頭外殼靠近頭部一端。
探頭垂直落于被測(cè)物表面，直到儀器屏幕出現(xiàn)數(shù)值。
建議探頭每次抬離被測(cè)物表面高度5cm以上。
若探頭置于被測(cè)物表面長(zhǎng)時(shí)間不出現(xiàn)讀數(shù)，可抬起探頭重新測(cè)量，或重啟儀器。
儀器測(cè)量界面下部有探頭測(cè)量狀態(tài)指示圖標(biāo)，指示探頭處于測(cè)量被測(cè)物表面（高亮白色）或是探頭抬起（灰色）狀態(tài)
零點(diǎn)調(diào)整
利用無(wú)涂、覆層的被測(cè)工件或與被測(cè)工件形狀、結(jié)構(gòu)相似的工件，對(duì)探頭調(diào)零。
一點(diǎn)校準(zhǔn)
利用無(wú)涂、覆層的被測(cè)工件或與被測(cè)工件形狀、結(jié)構(gòu)相似的工件測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)試片厚度，并調(diào)整儀器數(shù)值與標(biāo)準(zhǔn)試片相同或接近。
兩點(diǎn)校準(zhǔn)
在一點(diǎn)校準(zhǔn)的基礎(chǔ)上，測(cè)量與第一點(diǎn)不同厚度的標(biāo)準(zhǔn)試片，并調(diào)整儀器數(shù)值與標(biāo)準(zhǔn)試片相同或接近。先校準(zhǔn)厚度值較小的試片，再校準(zhǔn)厚度值較大的試片。
CM30涂層測(cè)厚儀可選配探頭： F3：0~3000um N2：0~2000um FN1.5：0~1500um F10：0~10000um 特點(diǎn)：CM30系列涂層測(cè)厚儀經(jīng)過(guò)CNC精密機(jī)械加工及陽(yáng)極氧化處理。儀器從機(jī)身到接插件均做防水密封處理，符合IP68防水防塵標(biāo)準(zhǔn)。 應(yīng)用范圍：本儀器可廣泛應(yīng)用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、航天航空、鐵路運(yùn)輸、化工業(yè)、商檢業(yè)等檢測(cè)領(lǐng)域，是無(wú)損檢測(cè)行業(yè)的 儀器。